詳細(xì)信息
日本日置HIOKI3504-40電容測(cè)試儀的使用方法：
采用橋式電路結(jié)構(gòu)，標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試電容器作為橋式電路的兩臂。當(dāng)進(jìn)行電容器電容值測(cè)量時(shí)，測(cè)試電壓同時(shí)施加在標(biāo)準(zhǔn)電容器和被試電容器上，處理器通過(guò)傳感器同采集流過(guò)兩者的電流信號(hào)并進(jìn)行處理后得也被試電容器的電容值。由于采用標(biāo)準(zhǔn)電容器、被試電容器同步采樣技術(shù)，可不受電源電壓波動(dòng)的影響；加之測(cè)量過(guò)程是全自動(dòng)進(jìn)行的，避免了手動(dòng)操作引起的誤差。
日本日置HIOKI3504-40電容測(cè)試儀特點(diǎn)：
C、D 2項(xiàng)目測(cè)試
能以恒定電壓測(cè)量大容量的多層陶瓷電容
靜電容量:最多可分成14類，能簡(jiǎn)單地根據(jù)測(cè)量值進(jìn)行分類
控制檢測(cè)功能
測(cè)試源頻率: 120Hz, 1kHz
高速測(cè)量: 2ms
RS-232C, GP-IB
日本日置HIOKI3504-40電容測(cè)試儀特性:
封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等
能根據(jù)C 和D（損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷
對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比側(cè)儀功能/觸發(fā)輸出功能
3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試
3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試
查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
輸入用探頭/測(cè)試夾具，實(shí)體不附帶。
按照測(cè)量目的，不同型號(hào)有不同的探頭/測(cè)試夾具選件
日本日置HIOKI3504-40電容測(cè)試儀技術(shù)數(shù)據(jù)：
測(cè)量參數(shù) | Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ） |
測(cè)量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
基本確度 | （代表值）C:±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測(cè)定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各系數(shù) |
測(cè)量頻率 | 120Hz, 1kHz |
測(cè)量信號(hào)電平 | 恒定電壓模式: 100mV (僅限3504-60) 500 mV, 1V 測(cè)量范圍: CV 100mV:～170μF量程(測(cè)量頻率1kHz), ～1.45mF 量程(測(cè)量頻率120Hz) CV 500mV: ～170μF量程(測(cè)量頻率1kHz), ～1.45mF 量程(測(cè)量頻率120Hz) CV 1V: ～70μF量程(測(cè)量頻率1kHz), ～700μF 量程(測(cè)量頻率120Hz) |
輸出電阻 | 5Ω（開(kāi)路端子電壓模式,上述測(cè)量范圍以外） |
顯示 | 發(fā)光二級(jí)管（6行表示，滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定） |
測(cè)量時(shí)間 | 典型值: 2.0 ms（1 kHz, FAST） ※測(cè)量時(shí)間根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量速度的不同而不同 |
機(jī)能 | 4端子控制檢測(cè)功能（僅限3504-60），BIN測(cè)量（除去3504-40），觸發(fā)同時(shí)輸出，儲(chǔ)存測(cè)量條件，比較測(cè)量值的場(chǎng)強(qiáng)，平均值功能，Low-C抑制功能，鳴叫功能，控制用輸出入（EXT.I/O），RS-232C界面（標(biāo)準(zhǔn)裝備），GP-IB接口（3504-40除外） |
電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA |
體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
附件 | 電源線×1，預(yù)備電源保險(xiǎn)絲×1 |
庚圣自動(dòng)化科技，測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域領(lǐng)導(dǎo)者！