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ICT探針（ICT series Probes)一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，行業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱(chēng)呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試．也稱(chēng)ICT測(cè)試和FCT測(cè)試．也是目前應(yīng)用較多的一種探針．
界面探針(Interface Probes)非標(biāo)準(zhǔn)的探針，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶(hù)定做的，例如泰瑞達(dá)（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面．
微型探針（MicroSeries Probes)兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm．
開(kāi)關(guān)探針（Switch Probes) 開(kāi)關(guān)探針單獨(dú)一支探針有兩路電流．
高頻探針（Coaxial Probes) 用于測(cè)試高頻信號(hào)，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以?xún)?nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的．
旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes) 彈力一般不高，因?yàn)槠浯┩感员緛?lái)就很強(qiáng)，一般用于OSP處理過(guò)的PCBA測(cè)試．
高電流探針（High Current Probes) 探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.
半導(dǎo)體探針(Semiconductor Probes) 直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
電池接觸探針(Battery and Connector Contacts) 一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長(zhǎng)． 除以上類(lèi)型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.