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ICT探針（ICT series Probes)一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，行業(yè)內(nèi)的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試．也稱ICT測試和FCT測試．也是目前應用較多的一種探針．
界面探針(Interface Probes)非標準的探針，一般是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面．
微型探針（MicroSeries Probes)兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm．
開關(guān)探針（Switch Probes) 開關(guān)探針單獨一支探針有兩路電流．
高頻探針（Coaxial Probes) 用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的．
旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes) 彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試．
高電流探針（High Current Probes) 探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．最大的測試電流可達39amps.
半導體探針(Semiconductor Probes) 直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
電池接觸探針(Battery and Connector Contacts) 一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長． 除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.