參數(shù)資料
型號(hào)： HEF4053BT
廠商： NXP Semiconductors N.V.
元件分類： 開關(guān)
英文描述： Triple single-pole double-throw analog switch
封裝： HEF4053BP<SOT38-4 (DIP16)|<<http://www.nxp.com/packages/SOT38-4.html<1<Always Pb-free,;HEF4053BT<SOT109-1 (SO16)|<<http://www.nxp.com/packages/SOT109-1.html<1<week
文件頁(yè)數(shù)： 11/21頁(yè)
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代理商： HEF4053BT
HEF4053B_9
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NXP B.V. 2010. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 09 — 25 March 2010
11 of 21
NXP Semiconductors
HEF4053B
Triple single-pole double-throw analog switch
[1]
For nYn to nZ or nZ to nYn propagation delays use V
EE
. For Sn to nYn or nZ propagation delays use V
DD
.
Test data is given in
Table 10
.
Definitions:
DUT = Device Under Test.
R
T
= Termination resistance should be equal to output impedance Z
o
of the pulse generator.
C
L
= Load capacitance including test jig and probe.
R
L
= Load resistance.
Fig 15. Test circuit for measuring switching times
001aaj903
VI
VO
RT
CL
RL
S1
DUT
PULSE
GENERATOR
t
W
V
M
V
I
V
I
V
DD
V
DD
V
SS
V
EE
open
0 V
negative
pulse
V
I
0 V
positive
pulse
10 %
90 %
V
M
90 %
10 %
V
M
V
M
t
W
t
f
t
r
t
f
t
r
Table 10.
Input
nYn, nZ
V
DD
or V
EE
V
DD
or V
SS
≤
20 ns
Test data
Load
C
L
50 pF
S1 position
t
PHL
[1]
V
DD
or V
EE
V
EE
Sn and E
t
r
, t
f
V
M
0.5V
DD
R
L
10 k
Ω
t
PLH
t
PZH
, t
PHZ
t
PZL
, t
PLZ
V
EE
other
V
EE
V
DD
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