存儲(chǔ)器 CY62167EV18LL-55BVXI SRAM

  • 類型:

    集成電路(IC)

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產(chǎn)品信息

CY62167EV18LL-55BVXI介紹:
描述 IC SRAM 16M PARALLEL 48VFBGA
對(duì)無(wú)鉛要求的達(dá)標(biāo)情況 / 對(duì)限制有害物質(zhì)指令(RoHS)規(guī)范的達(dá)標(biāo)情況 無(wú)鉛 / 符合限制有害物質(zhì)指令(RoHS)規(guī)范要求
濕氣敏感性等級(jí)(MSL) 3(168 小時(shí))
制造商標(biāo)準(zhǔn)提前期 11 周
詳細(xì)描述 SRAM - 異步 存儲(chǔ)器 IC 16Mb (1M x 16) 并聯(lián) 55ns 48-VFBGA(6x8)
類別 集成電路(IC)
存儲(chǔ)器
制造商 Cypress Semiconductor Corp
系列 MoBL?
包裝 ? 托盤 ?
零件狀態(tài) 在售
存儲(chǔ)器類型 易失
存儲(chǔ)器格式 SRAM
技術(shù) SRAM - 異步
存儲(chǔ)容量 16Mb (1M x 16)
寫周期時(shí)間 - 字,頁(yè) 55ns
訪問(wèn)時(shí)間 55ns
存儲(chǔ)器接口 并聯(lián)
電壓 - 電源 1.65 V ~ 2.25 V
工作溫度 -40°C ~ 85°C(TA)
安裝類型 表面貼裝
封裝/外殼 48-VFBGA
供應(yīng)商器件封裝 48-VFBGA(6x8)
基本零件編號(hào) CY62167


你可能遇到的一種類型的存儲(chǔ)芯片問(wèn)題是災(zāi)難性的失效。這通常是在加工好之后芯片受到物理或者是電子損傷造成的。災(zāi)難性失效是少見的,通常影響芯片中的大部分。因?yàn)橐淮笃瑓^(qū)域受到影響,所以災(zāi)難性的失效當(dāng)然可以被合適的測(cè)試算法檢測(cè)到。

 
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