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BGA雙頭針用于IC的BGA封裝測試,任何規(guī)格可訂做.

雙頭針,BGA雙頭針用于IC的BGA封裝測試,任何規(guī)格可訂做.

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  • 發(fā)布日期: 2012年03月02日
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雙頭高頻探針,兩頭都能活動,簡稱雙頭針,不同于傳統(tǒng)探針,它是一種高性能,高頻率的帶彈簧接觸部件。能滿足更高精度和頻率測試需要。
雙頭針只有一個內(nèi)部接觸面,通過減小大小和長度,這樣不僅可以最大化內(nèi)部電阻的重復(fù)性(即雙頭針測試頻率高),同時也提高了測試的精度。BGA雙頭針是測試座生產(chǎn)商的首選,用于集成在測試座里進行半導(dǎo)體測試(功能測試,變量測試),雙頭針在測試軌道上是透明的,并且能維持低且持續(xù)的接觸電阻。

 
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