參數(shù)資料
型號： 74LVC1G00GF,132
廠商： NXP Semiconductors
文件頁數(shù)： 18/19頁
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描述： IC GATE NAND SGL 2INP 6-XSON
產(chǎn)品培訓模塊： Logic Packages
特色產(chǎn)品： MicroPak?
標準包裝： 1
系列： 74LVC
邏輯類型： 與非門
電路數(shù)： 1
輸入數(shù)： 2
電源電壓： 1.65 V ~ 5.5 V
電流 - 靜態(tài)（最大值）： 200µA
輸出電流高，低： 32mA，32mA
邏輯電平 - 低： 0.7 V ~ 0.8 V
邏輯電平 - 高： 1.7 V ~ 2 V
額定電壓和最大 CL 時的最大傳播延遲： 1.8ns @ 5V，50pF
工作溫度： -40°C ~ 125°C
安裝類型： 表面貼裝
供應商設備封裝： 6-XSON，SOT891（1x1）
封裝/外殼： 6-XFDFN
包裝： 標準包裝
其它名稱： 568-9276-6
74LVC1G00
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Product data sheet
Rev. 10 — 2 July 2012
8 of 19
NXP Semiconductors
74LVC1G00
Single 2-input NAND gate
Test data is given in Table 10.
Definitions for test circuit:
RL = Load resistance.
CL = Load capacitance including jig and probe capacitance.
RT = Termination resistance should be equal to the output impedance Zo of the pulse generator.
VEXT = External voltage for measuring switching times.
Fig 9.
Test circuit for measuring switching times
VEXT
VCC
VI
VO
mna616
DUT
CL
RT
RL
G
Table 10.
Test data
Supply voltage
Input
Load
VEXT
VCC
VI
tr =tf
CL
RL
tPLH, tPHL
1.65 V to 1.95 V
VCC
2.0ns
30pF
1k
open
2.3 V to 2.7 V
VCC
2.0ns
30pF
500
open
2.7V
2.5ns
50pF
500
open
3.0V to 3.6V
2.7V
2.5ns
50pF
500
open
4.5 V to 5.5 V
VCC
2.5ns
50pF
500
open
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