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參數(shù)資料
| 型號： | 935274744557 |
| 廠商： | NXP SEMICONDUCTORS |
| 元件分類： | 消費家電 |
| 英文描述： | SPECIALTY CONSUMER CIRCUIT, PBGA456 |
| 封裝： | 27 X 27 MM, 1.75 MM HIEGHT, PLASTIC, MS-034, BGA-456 |
| 文件頁數(shù)： | 721/828頁 |
| 文件大?。?/td> | 7748K |
| 代理商： | 935274744557 |
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Philips Semiconductors
PNX15xx Series
Volume 1 of 1
Chapter 24: TM3260 Debug
PNX15XX_SER_3
Koninklijke Philips Electronics N.V. 2006. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 3 — 17 March 2006
24-2
TDO is the serial output for test instructions and data from the TAP controller.
Changes in the state of TDO must occur at the falling edge of TCK. This is because
devices connected to TDO are required to sample TDO at the rising edge of TCK.
The TDO driver must be in an inactive state (i.e., TDO line HIghZ) except when the
scanning of data is in progress.
2.1.2
TAP Controller
The TAP controller is a nite state machine that synchronously responds to changes
in TCK and TMS signals. The TAP instructions and data are serially scanned into the
TAP controller’s instruction and data registers via the common input line TDI. The
TMS signal tells the TAP controller to select either the TAP instruction register or a
TAP data registers as the destination for serial input from the common line TDI. An
instruction scanned into the instruction register selects a data register to be
connected between TDI and TDO to become the destination for serial data input.
The TAP controller’s state changes are determined by the TMS signal. The states are
used for scanning in/out TAP instruction and data, updating instruction, and data
registers, and for executing instructions.
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