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參數(shù)資料
| 型號： | A42MX24-3PQ160 |
| 廠商： | Microsemi SoC |
| 文件頁數(shù)： | 53/142頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA MX SGL CHIP 36K 160-PQFP |
| 標準包裝： | 24 |
| 系列： | MX |
| 輸入/輸出數(shù)： | 125 |
| 門數(shù)： | 36000 |
| 電源電壓： | 3 V ~ 3.6 V，4.75 V ~ 5.25 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 70°C |
| 封裝/外殼： | 160-BQFP |
| 供應商設備封裝： | 160-PQFP（28x28） |
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40MX and 42MX FPGA Families
1- 14
R e v i sio n 1 1
parallel ports are connected to the internal core logic tile and the input, output and control ports of an I/O
buffer to capture and load data into the register to control or observe the logic state of each I/O.
Figure 1-13 42MX IEEE 1149.1 Boundary Scan Circuitry
Table 1-3
Test Access Port Descriptions
Port
Description
TMS
(Test Mode Select)
Serial input for the test logic control bits. Data is captured on the rising edge of the test logic
clock (TCK).
TCK
(Test Clock Input)
Dedicated test logic clock used serially to shift test instruction, test data, and control inputs
on the rising edge of the clock, and serially to shift the output data on the falling edge of the
clock. The maximum clock frequency for TCK is 20 MHz.
TDI
(Test Data Input)
Serial input for instruction and test data. Data is captured on the rising edge of the test logic
clock.
TDO
(Test Data Output)
Serial output for test instruction and data from the test logic. TDO is set to an Inactive Drive
state (high impedance) when data scanning is not in progress.
Table 1-4
Supported BST Public Instructions
Instruction
IR Code
(IR2.IR0)
Instruction
Type
Description
EXTEST
000
Mandatory
Allows the external circuitry and board-level interconnections to be
tested by forcing a test pattern at the output pins and capturing test
results at the input pins.
SAMPLE/PRELOAD
001
Mandatory
Allows a snapshot of the signals at the device pins to be captured
and examined during operation
HIGH Z
101
Optional
Tristates all I/Os to allow external signals to drive pins. Please refer to
the IEEE Standard 1149.1 specification.
CLAMP
110
Optional
Allows state of signals driven from component pins to be determined
from the Boundary-Scan Register. Please refer to the IEEE Standard
1149.1 specification for details.
BYPASS
111
Mandatory
Enables the bypass register between the TDI and TDO pins. The test
data passes through the selected device to adjacent devices in the
test chain.
Boundary Scan Register
Instruction
Decode
Control Logic
TAP Controller
Instruction
Register
Bypass
Register
TMS
TCK
TDI
Output
MUX
TDO
JTAG
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| A42MX24-3PQG160 | IC FPGA MX SGL CHIP 36K 160-PQFP |
| DS1220AD-150+ | IC NVSRAM 16KBIT 150NS 24DIP |
| DS1220AD-120+ | IC NVSRAM 16KBIT 120NS 24DIP |
| EP4CGX75CF23C7 | IC CYCLONE IV GX FPGA 75K 484FBG |
| AMM25DTKN | CONN EDGECARD 50POS DIP .156 SLD |
相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| A42MX24-3PQ160I | 功能描述:IC FPGA MX SGL CHIP 36K 160-PQFP RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現(xiàn)場可編程門陣列） 系列:MX 產(chǎn)品培訓模塊:Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs Cyclone IV FPGA Family Overview 特色產(chǎn)品:Cyclone? IV FPGAs 標準包裝:60 系列:CYCLONE® IV GX LAB/CLB數(shù):9360 邏輯元件/單元數(shù):149760 RAM 位總計:6635520 輸入/輸出數(shù):270 門數(shù):- 電源電壓:1.16 V ~ 1.24 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:0°C ~ 85°C 封裝/外殼:484-BGA 供應商設備封裝:484-FBGA（23x23） |
| A42MX24-3PQ208 | 功能描述:IC FPGA MX SGL CHIP 36K 208-PQFP RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現(xiàn)場可編程門陣列） 系列:MX 產(chǎn)品培訓模塊:Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs Cyclone IV FPGA Family Overview 特色產(chǎn)品:Cyclone? IV FPGAs 標準包裝:60 系列:CYCLONE® IV GX LAB/CLB數(shù):9360 邏輯元件/單元數(shù):149760 RAM 位總計:6635520 輸入/輸出數(shù):270 門數(shù):- 電源電壓:1.16 V ~ 1.24 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:0°C ~ 85°C 封裝/外殼:484-BGA 供應商設備封裝:484-FBGA（23x23） |
| A42MX24-3PQ208I | 功能描述:IC FPGA MX SGL CHIP 36K 208-PQFP RoHS:否 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現(xiàn)場可編程門陣列） 系列:MX 產(chǎn)品培訓模塊:Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs Cyclone IV FPGA Family Overview 特色產(chǎn)品:Cyclone? IV FPGAs 標準包裝:60 系列:CYCLONE® IV GX LAB/CLB數(shù):9360 邏輯元件/單元數(shù):149760 RAM 位總計:6635520 輸入/輸出數(shù):270 門數(shù):- 電源電壓:1.16 V ~ 1.24 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:0°C ~ 85°C 封裝/外殼:484-BGA 供應商設備封裝:484-FBGA（23x23） |
| A42MX24-3PQ208IPM79 | 制造商:Microsemi Corporation 功能描述:FPGA 36K GATES 912 CELLS 0.45UM 3.3V/5V 208PQFP - Trays |
| A42MX24-3PQG160 | 功能描述:IC FPGA MX SGL CHIP 36K 160-PQFP RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現(xiàn)場可編程門陣列） 系列:MX 產(chǎn)品培訓模塊:Three Reasons to Use FPGA's in Industrial Designs Cyclone IV FPGA Family Overview 特色產(chǎn)品:Cyclone? IV FPGAs 標準包裝:60 系列:CYCLONE® IV GX LAB/CLB數(shù):9360 邏輯元件/單元數(shù):149760 RAM 位總計:6635520 輸入/輸出數(shù):270 門數(shù):- 電源電壓:1.16 V ~ 1.24 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:0°C ~ 85°C 封裝/外殼:484-BGA 供應商設備封裝:484-FBGA（23x23） |
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