參數(shù)資料
型號(hào)： AD5246BKS50-R2
廠商： Analog Devices Inc
文件頁(yè)數(shù)： 3/16頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC POT DGTL 50K 128POS SC70-6
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 1
接片： 128
電阻（歐姆）： 50k
電路數(shù)： 1
溫度系數(shù)： 標(biāo)準(zhǔn)值 45 ppm/°C
存儲(chǔ)器類型： 易失
接口： I²C
電源電壓： 2.7 V ~ 5.5 V
工作溫度： -40°C ~ 125°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 6-TSSOP，SC-88，SOT-363
供應(yīng)商設(shè)備封裝： SC-70-6
包裝： 剪切帶 (CT)
其它名稱： AD5246BKS50-R2CT
Data Sheet
AD5246
Rev. C | Page 11 of 16
TEST CIRCUITS
Figure 21 to Figure 25 define the test conditions used in the product Specification tables.
IW
VMS
W
B
DUT
03875-004
Figure 21. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation; R-INL, R-DNL)
V
MS%
DD%
PSS (%/%) =
V+ = VDD 10%
PSRR (dB) = 20 LOG
DUT
MS
DD
(
)
VDD
VMS
W
B
V+
V
±
03875-009
Figure 22. Test Circuit for Power Supply Sensitivity (PSS, PSSR)
W
10k
10k
2.5V
B
+15V
–15V
VOUT
OP27
DUT
VIN
03875-010
Figure 23. Test Circuit for Gain vs. Frequency
03875-040
W
B
VDD TO GND
DUT
ISW
CODE = 0x00
RSW =
0.1V
ISW
0.1V
Figure 24. Test Circuit for Incremental On Resistance
W
B
NO CONNECT
ICM
VCM
DUT
03875-012
Figure 25. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current
相關(guān)PDF資料
PDF描述
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參數(shù)描述
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AD5246BKSZ100-RL7 功能描述:IC DGTL RES 100K I2C SC70-6 RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 數(shù)據(jù)采集 - 數(shù)字電位器 系列:- 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊:Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program 標(biāo)準(zhǔn)包裝:1 系列:- 接片:256 電阻（歐姆）:100k 電路數(shù):1 溫度系數(shù):標(biāo)準(zhǔn)值 35 ppm/°C 存儲(chǔ)器類型:非易失 接口:3 線串口 電源電壓:2.7 V ~ 5.25 V 工作溫度:-40°C ~ 85°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:8-WDFN 裸露焊盤 供應(yīng)商設(shè)備封裝:8-TDFN-EP（3x3） 包裝:剪切帶 (CT) 產(chǎn)品目錄頁(yè)面:1399 (CN2011-ZH PDF) 其它名稱:MAX5423ETA+TCT
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