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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | ADG444ABRZ |
| 廠商： | Analog Devices Inc |
| 文件頁數(shù)： | 4/16頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SWITCH QUAD SPST 16SOIC |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 48 |
| 系列： | LC²MOS |
| 功能： | 開關(guān) |
| 電路： | 4 x SPST - NC |
| 導(dǎo)通狀態(tài)電阻： | 110 歐姆 |
| 電壓電源： | 單/雙電源 |
| 電壓 - 電源，單路/雙路(±)： | 12V，±15V |
| 電流 - 電源： | 1nA |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 16-SOIC（0.154"，3.90mm 寬） |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 16-SOIC |
| 包裝： | 管件 |
ADG441/ADG442/ADG444
Rev. A | Page 12 of 16
TRENCH ISOLATION
In the ADG441A, ADG442A, and ADG444A, an insulating
oxide layer (trench) is placed between the NMOS and the
PMOS transistors of each CMOS switch. Parasitic junctions,
which occur between the transistors in junction isolated
switches, are eliminated, and the result is a completely latch-up
proof switch.
In junction isolation, the N and P wells of the PMOS and
NMOS transistors form a diode that is reverse-biased under
normal operation. However, during overvoltage conditions, this
diode becomes forward-biased. A silicon-controlled rectifier
(SCR) type circuit is formed by the two transistors causing a
significant amplification of the current which, in turn, leads to
latch-up. With trench isolation, this diode is removed, and the
result is a latch-up proof switch.
05233-
004
BURIED OXIDE LAYER
SUBSTRATE (BACK GATE)
TRENCH
P-WELL
N-WELL
LOCO
NMOS
PMOS
Figure 21. Trench Isolation
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PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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