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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | ADG512TQ |
| 廠商： | Analog Devices Inc |
| 文件頁數(shù)： | 12/12頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC SWITCH QUAD SPST 16CDIP |
| 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： | Switch Fundamentals |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 25 |
| 系列： | LC²MOS |
| 功能： | 開關(guān) |
| 電路： | 4 x SPST - NO |
| 導(dǎo)通狀態(tài)電阻： | 45 歐姆 |
| 電壓電源： | 單/雙電源 |
| 電壓 - 電源，單路/雙路(±)： | 3V，5V，±5V |
| 電流 - 電源： | 100pA |
| 工作溫度： | -55°C ~ 125°C |
| 安裝類型： | 通孔 |
| 封裝/外殼： | 16-CDIP（0.300"，7.62mm） |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 16-CDIP |
| 包裝： | 管件 |
ADG511/ADG512/ADG513
REV. C
–9–
IDS
V1
SD
VS
RON = V1/IDS
Test Circuit 1. On Resistance
SD
VS
A
VD
A
IS (OFF)
ID (OFF)
Test Circuit 2. Off Leakage
SD
VS
VD
A
ID (ON)
Test Circuit 3. On Leakage
SD
VDD
0.1 F
VDD
IN
VS
GND
VSS
RL
300
CL
35pF
VOUT
0.1 F
VSS
tON
tOFF
3V
50%
3V
90%
VIN
VOUT
ADG511
ADG512
Test Circuit 4. Switching Times
S1
D1
0.1 F
VDD
IN1, IN2
VS1
GND
VSS
RL1
300
CL1
35pF
VOUT1
0.1 F
VS2
VOUT2
RL2
300
CL2
35pF
S2
VIN
D2
VDD
VSS
tD
3V
50%
90%
VIN
VOUT1
VOUT2
90%
0V
Test Circuit 5. Break-Before-Make Time Delay
SD
VDD
IN
VS
GND
VSS
CL
10nF
VOUT
RS
VSS
VDD
3V
VIN
VOUT
QINJ = CL
VOUT
Test Circuit 6. Charge Injection
Test Circuits
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