參數(shù)資料
型號： ADG736
廠商： Analog Devices, Inc.
英文描述： Low Voltage 4 Ω Dual SPDT Switch(低壓,單刀雙擲開關(guān))
中文描述： 低壓4Ω雙路SPDT開關(guān)（低壓，單刀雙擲開關(guān)）
文件頁數(shù)： 3/8頁
文件大小： 111K
代理商： ADG736
–3–
REV. 0
ADG736
SPECIFICATIONS
1
B Version
–40
8
C to
+85
8
C
Parameter
+25
8
C
Units
Test Conditions/Comments
ANALOG SWITCH
Analog Signal Range
On-Resistance (R
ON
)
0 V to V
DD
5.5
8
V
typ
max
5
V
S
= 0 V to V
DD
, I
DS
= –10 mA;
Test Circuit 1
On-Resistance Match Between
Channels (
R
ON
)
0.1
typ
max
typ
V
S
= 0 V to V
DD
, I
DS
= –10 mA
0.4
2.5
On-Resistance Flatness (R
FLAT(ON)
)
V
S
= 0 V to V
DD
, I
DS
= –10 mA
LEAKAGE CURRENTS
Source OFF Leakage I
S
(OFF)
V
DD
= +3.3 V
V
S
= 3 V/1 V, V
D
= 1 V/3 V;
Test Circuit 2
V
S
= V
D
= 1 V or 3 V;
Test Circuit 3
±
0.01
±
0.1
±
0.01
±
0.1
nA typ
nA max
nA typ
nA max
±
0.3
Channel ON Leakage I
D
, I
S
(ON)
±
0.3
DIGITAL INPUTS
Input High Voltage, V
INH
Input Low Voltage, V
INL
Input Current
I
INL
or I
INH
2.0
0.4
V min
V max
0.005
μ
A typ
μ
A max
V
IN
= V
INL
or V
INH
±
0.1
DYNAMIC CHARACTERISTICS
2
t
ON
14
ns typ
ns max
ns typ
ns max
ns typ
ns min
dB typ
dB typ
R
L
= 300
, C
L
= 35 pF
V
S
= 2 V; Test Circuit 4
R
L
= 300
, C
L
= 35 pF
V
S
= 2 V; Test Circuit 4
R
L
= 300
, C
L
= 35 pF
V
S1
= V
S2
= 2 V; Test Circuit 5
R
L
= 50
, C
L
= 5 pF, f = 10 MHz
R
L
= 50
, C
L
= 5 pF, f = 1 MHz;
Test Circuit 6
R
L
= 50
, C
L
= 5 pF, f = 10 MHz
R
L
= 50
, C
L
= 5 pF, f = 1 MHz;
Test Circuit 7
R
L
= 50
, C
L
= 5 pF; Test Circuit 8
20
t
OFF
6
10
Break-Before-Make Time Delay, t
D
7
1
Off Isolation
–62
–82
Channel-to-Channel Crosstalk
–62
–82
dB typ
dB typ
Bandwidth –3 dB
C
S
(OFF)
C
D
, C
S
(ON)
POWER REQUIREMENTS
200
9
32
MHz typ
pF typ
pF typ
V
DD
= +3.3 V
Digital Inputs = 0 V or 3 V
I
DD
0.001
μ
A typ
μ
A max
1.0
NOTES
1
Temperature ranges are as follows: B Version: –40
°
C to +85
°
C.
2
Guaranteed by design, not subject to production test.
Specifications subject to change without notice.
(V
DD
= +3 V
6
10%, GND = 0 V. All Specifications –40
8
C to +85
8
C, unless otherwise noted.)
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