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參數(shù)資料
| 型號： | AGLN015V5-QNG68 |
| 廠商： | Microsemi SoC |
| 文件頁數(shù)： | 62/150頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA NANO 1KB 15K 68-QFN |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 260 |
| 系列： | IGLOO nano |
| 邏輯元件/單元數(shù)： | 384 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 49 |
| 門數(shù)： | 15000 |
| 電源電壓： | 1.425 V ~ 1.575 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | -20°C ~ 70°C |
| 封裝/外殼： | 68-VFQFN 裸露焊盤 |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 68-QFN（8x8） |
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IGLOO nano Low Power Flash FPGAs
Revision 17
2-3
I/O Power-Up and Supply Voltage Thresholds for Power-On Reset
(Commercial and Industrial)
Sophisticated power-up management circuitry is designed into every IGLOO nano device. These circuits
ensure easy transition from the powered-off state to the powered-up state of the device. The many
different supplies can power up in any sequence with minimized current spikes or surges. In addition, the
I/O will be in a known state through the power-up sequence. The basic principle is shown in Figure 2-1
There are five regions to consider during power-up.
IGLOO nano I/Os are activated only if ALL of the following three conditions are met:
1. VCC and VCCI are above the minimum specified trip points (Figure 2-1 and Figure 2-2 on
page 2-5).
2. VCCI > VCC – 0.75 V (typical)
3. Chip is in the operating mode.
VCCI Trip Point:
Ramping up (V5 devices): 0.6 V < trip_point_up < 1.2 V
Ramping down (V5 devices): 0.5 V < trip_point_down < 1.1 V
Ramping up (V2 devices): 0.75 V < trip_point_up < 1.05 V
Ramping down (V2 devices): 0.65 V < trip_point_down < 0.95 V
VCC Trip Point:
Ramping up (V5 devices): 0.6 V < trip_point_up < 1.1 V
Ramping down (V5 devices): 0.5 V < trip_point_down < 1.0 V
Ramping up (V2 devices): 0.65 V < trip_point_up < 1.05 V
Ramping down (V2 devices): 0.55 V < trip_point_down < 0.95 V
VCC and VCCI ramp-up trip points are about 100 mV higher than ramp-down trip points. This specifically
built-in hysteresis prevents undesirable power-up oscillations and current surges. Note the following:
During programming, I/Os become tristated and weakly pulled up to VCCI.
JTAG supply, PLL power supplies, and charge pump VPUMP supply have no influence on I/O
behavior.
Table 2-4
Overshoot and Undershoot Limits 1
VCCI
Average VCCI–GND Overshoot or
Undershoot Duration
as a Percentage of Clock Cycle2
Maximum Overshoot/
Undershoot2
2.7 V or less
10%
1.4 V
5%
1.49 V
3 V
10%
1.1 V
5%
1.19 V
3.3 V
10%
0.79 V
5%
0.88 V
3.6 V
10%
0.45 V
5%
0.54 V
Notes:
1. Based on reliability requirements at 85°C.
2. The duration is allowed at one out of six clock cycles. If the overshoot/undershoot occurs at one out of two cycles, the
maximum overshoot/undershoot has to be reduced by 0.15 V.
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PDF描述 |
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