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Am28F256
25
Figure 5.
Am28F256—Average I
CC
Active vs. Frequency
V
CC
= 5.5 V, Addressing Pattern = Minmax
Data Pattern = Checkerboard
TEST CONDITIONS
Table 6.
Test Specifications
I
CC
Active
in mA
25
20
15
10
5
0
0
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
Frequency in MHz
11560F-13
55
°
C
0
°
C
25
°
C
70
°
C
125
°
C
2.7 k
C
L
6.2 k
5.0 V
Device
Under
Test
11560G-14
Figure 6.
Test Setup
Note:
Diodes are IN3064 or equivalent
Test Condition
-70
All others
Unit
Output Load
1 TTL gate
Output Load Capacitance, C
L
(including jig capacitance)
30
100
pF
Input Rise and Fall Times
≤
10
ns
Input Pulse Levels
0.0–3.0
0.45–2.4
V
Input timing measurement
reference levels
1.5
0.8, 2.0
V
Output timing measurement
reference levels
1.5
0.8, 2.0
V
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