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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | AM28F512A-70EIB |
| 廠商： | Advanced Micro Devices, Inc. |
| 英文描述： | Quadruple 2-Input Positive-Nor Gates 14-SSOP -40 to 85 |
| 中文描述： | 四2正輸入或非門 14-SSOP封裝；-40℃到85℃ |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 16/34頁(yè) |
| 文件大小： | 463K |
| 代理商： | AM28F512A-70EIB |
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23
Am28F512A
Figure 7.
Am28F512A—Average ICC Active vs. Frequency
VCC = 5.5 V, Addressing Pattern = Minmax
Data Pattern = Checkerboard
TEST CONDITIONS
Table 6.
Test Specifications
I CC
Act
ive
in
mA
25
20
15
10
5
0
01
23
456
789
10
11
12
Frequency in MHz
55
°C
0
°C
25
°C
70
°C
125
°C
18880B-15
2.7 k
CL
6.2 k
5.0 V
Device
Under
Test
18880C-16
Figure 8.
Test Setup
Note: Diodes are IN3064 or equivalent
Test Condition
-70
All others
Unit
Output Load
1 TTL gate
Output Load Capacitance, CL
(including jig capacitance)
30
100
pF
Input Rise and Fall Times
≤10
ns
Input Pulse Levels
0.0–3.0
0.45–2.4
V
Input timing measurement
reference levels
1.5
0.8, 2.0
V
Output timing measurement
reference levels
1.5
0.8, 2.0
V
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