參數(shù)資料
| 型號： | AT87C52X2-3CSUL |
| 廠商： | Atmel |
| 文件頁數(shù)： | 33/55頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC 8051 MCU 8K OTP 30MHZ 40DIP |
| 標準包裝： | 216 |
| 系列： | 87C |
| 核心處理器： | 8051 |
| 芯體尺寸： | 8-位 |
| 速度： | 30/20MHz |
| 連通性： | UART/USART |
| 外圍設備： | POR |
| 輸入/輸出數(shù)： | 32 |
| 程序存儲器容量： | 8KB（8K x 8） |
| 程序存儲器類型： | OTP |
| RAM 容量： | 256 x 8 |
| 電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： | 2.7 V ~ 5.5 V |
| 振蕩器型： | 內部 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 40-DIP（0.600"，15.24mm） |
| 包裝： | 管件 |
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TS8xCx2X2
4184I–8051–02/08
Port 0: 26 mA
Ports 1, 2 and 3: 15 mA
Maximum total IOL for all output pins: 71 mA
If IOL exceeds the test condition, VOL may exceed the related specification. Pins are not guaranteed to sink current greater
than the listed test conditions.
7. For other values, please contact your sales office.
8. Operating ICC is measured with all output pins disconnected; XTAL1 driven with TCLCH, TCHCL = 5 ns (see Figure 17.), VIL =
VSS + 0.5V,
VIH = VCC - 0.5V; XTAL2 N.C.; EA = Port 0 = VCC; RST = VSS. The internal ROM runs the code 80 FE (label: SJMP label). ICC
would be slightly higher if a crystal oscillator is used. Measurements are made with OTP products when possible, which is
the worst case.
Figure 13. ICC Test Condition, under reset
Figure 14. Operating ICC Test Condition
Figure 15. ICC Test Condition, Idle Mode
EA
VCC
ICC
(NC)
CLOCK
SIGNAL
VCC
All other pins are disconnected.
RST
XTAL2
XTAL1
VSS
VCC
P0
EA
VCC
ICC
(NC)
CLOCK
SIGNAL
All other pins are disconnected.
RST
XTAL2
XTAL1
VSS
VCC
P0
Reset = Vss after a high pulse
during at least 24 clock cycles
RST
EA
XTAL2
XTAL1
VSS
VCC
ICC
(NC)
P0
VCC
All other pins are disconnected.
CLOCK
SIGNAL
Reset = Vss after a high pulse
during at least 24 clock cycles
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| AT87C51RD2-SLSUM | IC 8051 MCU 64K OTP 40MHZ 44PLCC |
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相關代理商/技術參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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