參數(shù)資料
型號: DEMO9S08EL32
廠商: Freescale Semiconductor
文件頁數(shù): 281/356頁
文件大?。?/td> 0K
描述: BOARD DEMO FOR 9S08 EL MCU
標(biāo)準(zhǔn)包裝: 1
類型: MCU
適用于相關(guān)產(chǎn)品: MC9S08EL32
所含物品: 評估板
產(chǎn)品目錄頁面: 730 (CN2011-ZH PDF)
相關(guān)產(chǎn)品: MC9S08SL8CTL-ND - MCU 8KB FLASH SLIC 28TSSOP
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MC9S08EL16CTJ-ND - MCU 16KB FLASH SLIC 20TSSOP
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Appendix A Electrical Characteristics
MC9S08EL32 Series and MC9S08SL16 Series Data Sheet, Rev. 3
Freescale Semiconductor
353
A.14
EMC Performance
Electromagnetic compatibility (EMC) performance is highly dependant on the environment in which the
MCU resides. Board design and layout, circuit topology choices, location and characteristics of external
components as well as MCU software operation all play a significant role in EMC performance. The
system designer should consult Freescale applications notes such as AN2321, AN1050, AN1263,
AN2764, and AN1259 for advice and guidance specifically targeted at optimizing EMC performance.
A.14.1
Radiated Emissions
Microcontroller radiated RF emissions are measured from 150 kHz to 1 GHz using the TEM/GTEM Cell
method in accordance with the IEC 61967-2 and SAE J1752/3 standards. The measurement is performed
with the microcontroller installed on a custom EMC evaluation board while running specialized EMC test
software. The radiated emissions from the microcontroller are measured in a TEM cell in two package
orientations (North and East).
The maximum radiated RF emissions of the tested configuration in all orientations are less than or equal
to the reported emissions levels.
10
C
EEPROM Program/erase endurance3
TL to TH = –40°C to + 0°C
TL to TH = 0°C to + 125°C
T = 25
°C
nEEPE
10,000
50,000
100,000
cycles
11
C
Data retention4
tD_ret
15
100
years
1 The frequency of this clock is controlled by a software setting.
2 These values are hardware state machine controlled. User code does not need to count cycles. This information supplied for
calculating approximate time to program and erase.
3 Typical endurance for Flash is based upon the intrinsic bit cell performance. For additional information on how Freescale
defines typical endurance, please refer to Engineering Bulletin EB619/D, Typical Endurance for Nonvolatile Memory.
4 Typical data retention values are based on intrinsic capability of the technology measured at high temperature and de-rated
to 25
°C using the Arrhenius equation. For additional information on how Freescale Semiconductor defines typical data
retention, please refer to Engineering Bulletin EB618/D, Typical Data Retention for Nonvolatile Memory.
Table A-17. Radiated Emissions, Electric Field
Parameter
Symbol
Conditions
Frequency
fOSC/fBUS
Level1
(Max)
Unit
Radiated emissions,
electric field
VRE_TEM
VDD = 5.0V
TA = +25
oC
package type
28 TSSOP
0.15 – 50 MHz
4MHz crystal
20MHz bus
11
dB
μV
50 – 150 MHz
12
150 – 500 MHz
3
500 – 1000 MHz
10
IEC Level
N/A
SAE Level
2
Table A-16. Flash Characteristics (continued)
Num
C
Characteristic
Symbol
Min
Typical
Max
Unit
相關(guān)PDF資料
PDF描述
MRJ0330DD-A C/A MRJ21/MRJ21 GBE STRT CMR 33M
RS3-4805SZ/H2 CONV DC/DC 3W 20-60VIN 05VOUT
VE-JWZ-EZ CONVERTER MOD DC/DC 2V 10W
RS3-483.3D/H3 CONV DC/DC 3W 36-72VIN +/-3.3V
VE-JWY-EZ CONVERTER MOD DC/DC 3.3V 16.5W
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù)
參數(shù)描述
DEMO9S08EL32 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:MC9S08EL Demonstration board
DEMO9S08EL32AUTO 功能描述:開發(fā)板和工具包 - S08 / S12 EL32 DEMO BOARD AUTO RoHS:否 產(chǎn)品:Development Kits 工具用于評估:MC9S12G128 核心:S12 接口類型:CAN, LIN, RS-232, USB 工作電源電壓:5 V 制造商:Freescale Semiconductor
DEMO9S08FL16 功能描述:開發(fā)板和工具包 - S08 / S12 DEMO BOARD FOR FL16 FAMILY RoHS:否 產(chǎn)品:Development Kits 工具用于評估:MC9S12G128 核心:S12 接口類型:CAN, LIN, RS-232, USB 工作電源電壓:5 V 制造商:Freescale Semiconductor
DEMO9S08JM16 功能描述:開發(fā)板和工具包 - S08 / S12 DEMO BOARD FOR JM16 FAMI RoHS:否 產(chǎn)品:Development Kits 工具用于評估:MC9S12G128 核心:S12 接口類型:CAN, LIN, RS-232, USB 工作電源電壓:5 V 制造商:Freescale Semiconductor
DEMO9S08JM16 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:; Development Tool Type:Hardwa