參數(shù)資料
型號： DS2155L+
廠商： Maxim Integrated Products
文件頁數(shù)： 159/238頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC TXRX T1/E1/J1 1-CHIP 100-LQFP
產(chǎn)品培訓模塊： Lead (SnPb) Finish for COTS
Obsolescence Mitigation Program
標準包裝： 90
功能： 單芯片收發(fā)器
接口： E1，HDLC，J1，T1
電路數(shù)： 1
電源電壓： 3.14 V ~ 3.47 V
電流 - 電源： 75mA
工作溫度： 0°C ~ 70°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 100-LQFP
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 100-LQFP（14x14）
包裝： 管件
包括： BERT 發(fā)生器和檢測器，CMI 編碼器和解碼器，HDLC 控制器
產(chǎn)品目錄頁面： 1429 (CN2011-ZH PDF)
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DS2155
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4.6 JTAG Test Access Port Pins
Signal Name:
JTRST
Signal Description:
IEEE 1149.1 Test Reset
Signal Type:
Input
JTRST is used to asynchronously reset the test access port controller. After power-up, JTRST must be toggled from
low to high. This action sets the device into the JTAG DEVICE ID mode. Normal device operation is restored by
pulling JTRST low. JTRST is pulled high internally by a 10k resistor operation.
Signal Name:
JTMS
Signal Description:
IEEE 1149.1 Test Mode Select
Signal Type:
Input
This pin is sampled on the rising edge of JTCLK and is used to place the test access port into the various defined
IEEE 1149.1 states. This pin has a 10k pullup resistor.
Signal Name:
JTCLK
Signal Description:
IEEE 1149.1 Test Clock Signal
Signal Type:
Input
This signal is used to shift data into JTDI on the rising edge and out of JTDO on the falling edge.
Signal Name:
JTDI
Signal Description:
IEEE 1149.1 Test Data Input
Signal Type:
Input
Test instructions and data are clocked into this pin on the rising edge of JTCLK. This pin has a 10k pullup
resistor.
Signal Name:
JTDO
Signal Description:
IEEE 1149.1 Test Data Output
Signal Type:
Output
Test instructions and data are clocked out of this pin on the falling edge of JTCLK. If not used, this pin should be
left unconnected.
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PDF描述
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參數(shù)描述
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DS2155LC2 功能描述:網(wǎng)絡(luò)控制器與處理器 IC RoHS:否 制造商:Micrel 產(chǎn)品:Controller Area Network (CAN) 收發(fā)器數(shù)量: 數(shù)據(jù)速率: 電源電流（最大值）:595 mA 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:PBGA-400 封裝:Tray
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