參數(shù)資料
型號： FSA642UMX
廠商： Fairchild Semiconductor
文件頁數(shù)： 9/12頁
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描述： IC SWITCH 3PDT 24UMLP
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 1
功能： 開關(guān)
電路： 1 x TPDT
導(dǎo)通狀態(tài)電阻： 7 歐姆
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 24-UMLP
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 24-UMLP
包裝： 標(biāo)準(zhǔn)包裝
產(chǎn)品目錄頁面： 1218 (CN2011-ZH PDF)
其它名稱： FSA642UMXDKR
2008 Fairchild Semiconductor Corporation
www.fairchildsemi.com
FSA642 Rev. 1.1.1
6
F
SA6
4
2
—
Low
-P
ow
er
,Thr
ee
-Po
rt
,Hi
gh
-S
peed
MIP
I
S
wi
tc
h
AC Electrical Characteristics
All values are at RL=50
and RS=50 and all typical values are VCC=2.775V at TA=25°C unless otherwise specified.
Symbol
Parameter
Conditions
VCC (V)
TA=-40C to +85C
Units
Min.
Typ.
Max.
OIRR
Off Isolation
f=100 MHz, RT=50
2.775
-35
dB
Xtalk
Non-Adjacent Channel
Crosstalk
f=100 MHz, RT=50
2.775
-55
dB
BW
-3 db Bandwidth
CL=0 pF, RT=50
2.775
1.0
GHz
tON
Turn-On Time
SEL, /OE to Output
CL=5 pF, VSW=1.2 V
2.650 to 2.775
20
37
ns
tOFF
Turn-Off Time
SEL, /OE to Output
CL=5 pF, VSW=1.2 V
2.650 to 2.775
15
27
ns
tPD
Propagation Delay
CL=5 pF
2.775
0.25
ns
tBBM
Break-Before-Make Time
CL=5 pF,
VSW1=VSW2=1.2 V
2.650 to 2.775
3
5
8
ns
Note:
7.
Guaranteed by characterization.
AC Electrical Characteristics, High-Speed
All typical values are VCC=2.775V at TA=25°C unless otherwise specified.
Symbol
Parameter
Conditions
TA=-40C to +85C
Units
Min.
Typ.
Max.
tSK(Part_Part)
Channel-to-Channel Skew
Across Multiple Parts
VSW=0.2 VdiffPP, CL=5 pF
40
80
ps
tSK(Chl_Chl)
Channel-to-Channel Skew Within
a Single Part
VSW=0.2 VdiffPP, CL=5 pF,
15
30
ps
tSK(Pulse)
Skew of Opposite Transitions in
the Same Differential Channel
VSW=0.2 VdiffPP, CL=5 pF
10
20
ps
Notes:
8.
Guaranteed by characterization.
9.
Assumes the same VCC and temperature for all devices.
Capacitance
Symbol
Parameter
Conditions
TA=-40C to +85C
Units
Min.
Typ.
Max.
CIN
Control Pin Input
Capacitance
VCC=0 V
1.5
pF
CON
Dn/CLK- On Capacitance
VCC=2.775 V, /OE=0 V, f=1 MHz,
at 25°C, Figure 11
6.0
7.0
9.0
COFF
Dn/CLK Off Capacitance
VCC=2.775 V, /OE=2.775 V,
f=1 MHz, Figure 10
2.5
Note:
10. Guaranteed by characterization.
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