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參數(shù)資料
| 型號： | IDT72V71623DA |
| 廠商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件頁數(shù)： | 9/28頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC DGTL SW 2048X2048 144-TQFP |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 30 |
| 系列： | 72V |
| 類型： | 多路復(fù)用器 |
| 電路： | 1 x 1:16 |
| 獨(dú)立電路： | 1 |
| 電壓電源： | 單電源 |
| 電源電壓： | 3 V ~ 3.6 V |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 144-LQFP |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 144-TQFP（20x20） |
| 包裝： | 托盤 |
| 其它名稱： | 72V71623DA |
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17
COMMERCIAL TEMPERATURE RANGE
IDT72V71623 3.3V TIME SLOT INTERCHANGE
DIGITAL SWITCH 2,048 x 2,048
JTAG SUPPORT
TheIDT72V71623JTAGinterfaceconformstotheBoundary-Scanstan-
dardIEEE-1149.1.Thisstandardspecifiesadesign-for-testabilitytechnique
called Boundary-Scan test (BST). The operation of the boundary-scan
circuitry is controlled by an external test access port (TAP) Controller.
TEST ACCESS PORT (TAP)
The Test Access Port (TAP) provides access to the test functions of the
IDT72V71623. It consists of three input pins and one output pin.
Test Clock Input (TCK)
TCKprovidestheclockforthetestlogic.TheTCKdoesnotinterferewith
anyon-chipclockandthusremainindependent.TheTCKpermitsshiftingof
testdataintooroutoftheBoundary-Scanregistercellsconcurrentlywiththe
operationofthedeviceandwithoutinterferingwiththeon-chiplogic.
Test Mode Select Input (TMS)
The logic signals received at the TMS input are interpreted by the TAP
Controllertocontrolthetestoperations.TheTMSsignalsaresampledatthe
risingedgeoftheTCKpulse.ThispinisinternallypulledtoVCCwhenitisnot
driven from an external source.
Test Data Input (TDI)
Serialinputdataappliedtothisportisfedeitherintotheinstructionregister
orintoatestdataregister,dependingonthesequencepreviouslyappliedto
the TMS input. Both registers are described in a subsequent section. The
received input data is sampled at the rising edge of TCK pulses. This pin is
internally pulled to VCC when it is not driven from an external source.
TestDataOutput(TDO)
Depending on the sequence previously applied to the TMS input, the
contentsofeithertheinstructionregisterordataregisterareseriallyshiftedout
towardstheTDO.ThedataoutoftheTDOisclockedonthefallingedgeofthe
TCKpulses.Whennodataisshiftedthroughtheboundaryscancells,theTDO
driver is set to a high-impedance state.
Test Reset (TRST)
Reset the JTAG scan structure. This pin is internally pulled to VCC.
INSTRUCTION REGISTER
In accordance with the IEEE-1149.1 standard, the IDT72V71623 uses
public instructions. The IDT72V71623 JTAG Interface contains a two-bit
instructionregister.Instructionsareseriallyloadedintotheinstructionregister
fromtheTDIwhentheTAPControllerisinitsshifted-IRstate.Subsequently,
theinstructionsaredecodedtoachievetwobasicfunctions:toselectthetestdata
registerthatmayoperatewhiletheinstructioniscurrent,andtodefinetheserial
testdataregisterpath,whichisusedtoshiftdatabetweenTDIandTDOduring
dataregisterscanning.
Value
Instruction
00
EXTEST
11
BYPASS
01 or 10
SAMPLE/PRELOAD
TESTDATAREGISTER
AsspecifiedinIEEE-1149.1,theIDT72V71623JTAGInterfacecontains
twotestdataregisters:
The Boundary-Scan register
TheBoundary-ScanregisterconsistsofaseriesofBoundary-Scancells
arrangedtoformascanpatharoundtheboundaryoftheIDT72V71623core
logic.
The Bypass Register
TheBypassregisterisasinglestageshiftregisterthatprovidesaone-bit
pathfromTDItoitsTDO.TheIDT72V71623boundaryscanregisterbitsare
showninTable10.Bit0isthefirstbitclockedout.Allthree-stateenablebitsare
activehigh.
JTAG Instruction Register Decoding
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