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參數(shù)資料
| 型號： | IDT74SSTUBH32868ABKG8 |
| 廠商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件頁數(shù)： | 11/22頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC BUFFER 28BIT CONF DDR2 176BGA |
| 標準包裝： | 2,000 |
| 邏輯類型： | 1:1、1:2 可配置寄存緩沖器 |
| 電源電壓： | 1.7 V ~ 1.9 V |
| 位數(shù)： | 28 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 70°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 176-TFBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 176-CABGA（6x15） |
| 包裝： | 帶卷 (TR) |
| 其它名稱： | 74SSTUBH32868ABKG8 |
IDT74SSTUBH32868A
28-BIT CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER FOR DDR2
COMMERCIAL TEMPERATURE GRADE
28-BIT CONFIGURABLE REGISTERED BUFFER FOR DDR2
19
IDT74SSTUBH32868A
7105/7
Test Circuits and Waveforms (VDD = 1.8V ± 0.1V)
Load Circuit: High-to-Low Slew-Rate Adjustment
Voltage Waveforms: High-to-Low Slew-Rate Adjustment
Load Circuit: Low-to-High Slew-Rate Adjustment
Voltage Waveforms: Low-to-High Slew-Rate Adjustment
Load Circuit: Error Output Measurements
Voltage Waveforms: Open Drain Output Low-to-High
Transition Time (with respect to RESET input)
Voltage Waveforms: Open Drain Output High-to-Low
Transition Time (with respect to clock inputs)
Voltage Waveforms: Open Drain Output Low-to-High
Transition Time (with respect to clock inputs)
NOTES:
1. CL includes probe and jig capacitance.
2. All input pulses are supplied by generators having the following characteristics: PRR
≤10MHz, Zo = 50Ω, input
slew rate = 1 V/ns ±20% (unless otherwise specified).
CL =10 pF
RL =50
Ω
DUT
Out
Test Point
VDD
VOH
80%
20%
VOL
Output
dv_f
dt_f
CL =10pF
RL =50
Ω
DUT
Out
Test Point
VOL
20%
80%
VOH
Output
dv_r
dt_r
CL =10 pF
RL =1K
Ω
DUT
Out
Test Point
VDD
VOH
VCC
Output
Waveform 2
LVCMOS
RESET
Input
tPLH
VCC/2
0.15V
0V
VCC
VICR
tHL
Timing
Inputs
VICR
VI(PP)
Output
Waveform 1
VCC/2
VOL
VOH
Output
Waveform 2
0.15V
0V
VICR
tHL
Timing
Inputs
VICR
VI(PP)
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