8 FN6408.2 June 17, 2010 FIGURE 5. CAPACITANCE TEST CIRCUIT FIGURE 6. CROSSTALK TEST CIRCUIT FIGURE 7A. MEASUREMENT POINTS FIGURE 7B. " />
參數(shù)資料
型號： ISL54200IRZ-T
廠商： Intersil
文件頁數(shù)： 17/18頁
文件大小： 0K
描述： IC USB SWITCH DUAL SPDT 10TDFN
標準包裝： 6,000
功能： USB 開關(guān)
電路： 2 x SPDT
導通狀態(tài)電阻： 30 歐姆
電壓電源： 單電源
電壓 - 電源，單路/雙路(±)： 2.7 V ~ 5.5 V
電流 - 電源： 20nA
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 10-VFDFN 裸露焊盤
供應商設(shè)備封裝： 10-TDFN/MLP（3x3）
包裝： 帶卷 (TR)
ISL54200
8
FN6408.2
June 17, 2010
FIGURE 5. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 6. CROSSTALK TEST CIRCUIT
FIGURE 7A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 7B. TEST CIRCUIT
FIGURE 7. SKEW TEST
Test Circuits and Waveforms (Continued)
VDD
C
GND
HSx or FSx
COMx
IN
IMPEDANCE
ANALYZER
VINL OR
EN
VINH
Repeat test for all switches.
ANALYZER
VDD
C
HSx
SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
IN
COMx
45Ω
NC
COMx
FSx
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches.
EN
VIN
DIN+
DIN-
OUT+
OUT-
50%
90%
10%
90%
50%
90%
50%
tri
tfi
tro
tf0
tskew_i
tskew_o
OUT+
CL
COMD1
D2
GND
VDD
C
D1
COMD2
CL
OUT-
DIN+
DIN-
|tro-tri| Delay Due to Switch for Rising Input and Rising Output
|tfo-tfi| Delay Due to Switch for Falling Input and Falling Output
|tskew_0| Change in Skew through the Switch for Output Signa
|tskew_i| Change in Skew through the Switch for Input Signals.
15.8Ω
143Ω
45Ω
VIN
EN
Signals.
ISL54200
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PDF描述
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ISL54205AIRZ-T 功能描述:IC SWITCH MP3/USB2.0 HS 10-TDFN RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 模擬開關(guān)，多路復用器，多路分解器 系列:- 產(chǎn)品培訓模塊:Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program 標準包裝:36 系列:- 功能:多路復用器 電路:2 x 4:1 導通狀態(tài)電阻:75 歐姆 電壓電源:單/雙電源 電壓 - 電源，單路/雙路(±):2 V ~ 12 V，±2 V ~ 6 V 電流 - 電源:- 工作溫度:0°C ~ 70°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:20-SOIC（0.295"，7.50mm 寬） 供應商設(shè)備封裝:20-SOIC W 包裝:管件
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