FN7701.0 September 27, 2010 FIGURE 5. CROSSTALK TEST CIRCUIT FIGURE 6A. MEASUREMENT POINTS FIGURE 6B. TEST CIRCUIT FIGURE 6. SKEW TEST
參數(shù)資料
型號(hào)： ISL54216IRUZ-T
廠商： Intersil
文件頁(yè)數(shù)： 15/17頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC USB SWITCH SP3T DUAL 12TQFN
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 3,000
功能： 開(kāi)關(guān)
電路： 2 x SP3T
導(dǎo)通狀態(tài)電阻： 15 歐姆
電壓電源： 單電源
電壓 - 電源，單路/雙路(±)： 2.7 V ~ 4.6 V
電流 - 電源： 6.5µA
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 12-UFQFN
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 12-uTQFN（2.2x1.4）
包裝： 帶卷 (TR)
7
FN7701.0
September 27, 2010
FIGURE 5. CROSSTALK TEST CIRCUIT
FIGURE 6A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 6B. TEST CIRCUIT
FIGURE 6. SKEW TEST
Test Circuits and Waveforms (Continued)
0V OR FLOAT
ANALYZER
VDD
C
xD-
SIGNAL
GENERATOR
50
Ω
GND
VCx
COMx
50
Ω
N.C.
COMx
xD+
CTRL
DIN+
DIN-
OUT+
OUT-
50%
90%
10%
90%
50%
90%
50%
tri
tfi
tro
tf0
tskew_i
tskew_o
OUT+
CL
COM-
D+
GND
VDD
C
D-
COM+
CL
OUT-
DIN+
DIN-
|tro - tri| Delay Due to Switch for Rising Input and Rising Output Signals.
|tfo - tfi| Delay Due to Switch for Falling Input and Falling Output Signals.
|tskew_0| Change in Skew through the Switch for Output Signals.
|tskew_i| Change in Skew through the Switch for Input Signals.
15.8
Ω
15.8
Ω
143
Ω
143
Ω
45
Ω
45
Ω
C0
C1
VDD
0V
ISL54216
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PDF描述
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參數(shù)描述
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ISL54217 制造商:INTERSIL 制造商全稱:Intersil Corporation 功能描述:USB 2.0 High-Speed x 2 Channels/Stereo Audio Dual SP3T Dual 3-to-1 Multiplexer
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ISL54217IRTZ 功能描述:IC USB SWITCH DUAL SP3T 12TQFN RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 模擬開(kāi)關(guān)，多路復(fù)用器，多路分解器 系列:- 其它有關(guān)文件:STG4159 View All Specifications 標(biāo)準(zhǔn)包裝:5,000 系列:- 功能:開(kāi)關(guān) 電路:1 x SPDT 導(dǎo)通狀態(tài)電阻:300 毫歐 電壓電源:雙電源 電壓 - 電源，單路/雙路(±):±1.65 V ~ 4.8 V 電流 - 電源:50nA 工作溫度:-40°C ~ 85°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:7-WFBGA，F(xiàn)CBGA 供應(yīng)商設(shè)備封裝:7-覆晶 包裝:帶卷 (TR)
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