FIGURE 1. rON TEST CIRCUIT F" />
參數(shù)資料
型號(hào)： ISL54230IIZ-T
廠商： Intersil
文件頁(yè)數(shù)： 17/18頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC USB SWITCH DPDT OCTAL 36WLCSP
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 3,000
功能： 開關(guān)
電路： 4 x DPDT
導(dǎo)通狀態(tài)電阻： 1.5 歐姆
電壓電源： 單電源
電壓 - 電源，單路/雙路(±)： 2 V ~ 5.5 V
電流 - 電源： 1µA
工作溫度： -40°C ~ 85°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 36-UFBGA，WLCSP
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 36-WLCSP
包裝： 帶卷 (TR)
8
FN6825.2
May 28, 2009
Test Circuits and Waveforms
FIGURE 1. rON TEST CIRCUIT
FIGURE 2. OFF-ISOLATION TEST CIRCUIT
FIGURE 3. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 4. CROSSTALK TEST CIRCUIT
FIGURE 5. POWER OFF LEAKAGE TEST CIRCUIT
VDD
C
NOx OR NCx
COMx
INx
GND
VNO/NC
V1
rON = V1/Icom
Icom
Repeat test for all switches.
VIN
ANALYZER
RL
50
Ω SIGNAL
GENERATOR
C
0V OR V+
NO OR NC
COM
IN
GND
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded.
VDD
C
GND
NOx/NCx
COMx
INx
IMPEDANCE
ANALYZER
0V OR
VDD
COM is connected to NO or NC
during ON capacitance measurement.
ANALYZER
VDD
C
NO1/NC1
50
Ω SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
INx
COM1
50
Ω
NC
COMx
NOx/NCx
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches.
VIN
VDD
GND
NOx OR NCx
COMx
INx
A
5.25V
NOTE: OEx such that switch is disabled
ISL54230
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PDF描述
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ISL54230IRTZ-T 功能描述:IC SWITCH QUAD DPDT 32TQFN RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 接口 - 模擬開關(guān)，多路復(fù)用器，多路分解器 系列:- 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊:Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program 標(biāo)準(zhǔn)包裝:36 系列:- 功能:多路復(fù)用器 電路:2 x 4:1 導(dǎo)通狀態(tài)電阻:75 歐姆 電壓電源:單/雙電源 電壓 - 電源，單路/雙路(±):2 V ~ 12 V，±2 V ~ 6 V 電流 - 電源:- 工作溫度:0°C ~ 70°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:20-SOIC（0.295"，7.50mm 寬） 供應(yīng)商設(shè)備封裝:20-SOIC W 包裝:管件
ISL54233 制造商:INTERSIL 制造商全稱:Intersil Corporation 功能描述:Wideband Differential 3:1 Multiplexer
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