Specifications ispLSI 5384VE 9 Figure 8. Boundary Scan Waveforms and Timing Specifications TMS TDI TCK TDO Data to be captured Data to be drive" />
參數(shù)資料
型號(hào)： ISPLSI 5384VE-100LB272
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁(yè)數(shù)： 22/22頁(yè)
文件大小： 0K
描述： IC PLD ISP 192I/O 10NS 272BGA
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 40
系列： ispLSI® 5000VE
可編程類(lèi)型： 系統(tǒng)內(nèi)可編程
最大延遲時(shí)間 tpd(1)： 10.0ns
電壓電源 - 內(nèi)部： 3 V ~ 3.6 V
邏輯元件/邏輯塊數(shù)目： 12
宏單元數(shù)： 384
門(mén)數(shù)： 18000
輸入/輸出數(shù)： 192
工作溫度： 0°C ~ 70°C
安裝類(lèi)型： 表面貼裝
封裝/外殼： 272-BBGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 272-BGA（27x27）
包裝： 托盤(pán)
其它名稱(chēng)： ISPLSI5384VE-100LB272
Specifications ispLSI 5384VE
9
Figure 8. Boundary Scan Waveforms and Timing Specifications
TMS
TDI
TCK
TDO
Data to be
captured
Data to be
driven out
Valid Data
Data Captured
btsu
T
bth
T
btcl
T
btch
T
btcp
T
btvo
T
btco
T
btoz
T
btcpsu
T
btcph
T
btuov
T
btuco
T
btuoz
T
SYMBOL
PARAMETER
MIN
MAX
UNITS
tbtcp
TCK [BSCAN test] clock pulse width
125
–
ns
tbtch
TCK [BSCAN test] pulse width high
62.5
–
ns
tbtcl
TCK [BSCAN test] pulse width low
62.5
–
ns
tbtsu
TCK [BSCAN test] setup time
25
–
ns
tbth
TCK [BSCAN test] hold time
25
–
ns
trf
TCK [BSCAN test] rise and fall time
50
–
mV/ns
tbtco
TAP controller falling edge of clock to valid output
–25
ns
tbtoz
TAP controller falling edge of clock to data output disable
–25
ns
tbtvo
TAP controller falling edge of clock to data output enable
–25
ns
tbtcpsu
BSCAN test Capture register setup time
25
–
ns
tbtcph
BSCAN test Capture register hold time
25
–
ns
tbtuco
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to valid output
–50
ns
tbtuoz
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output disable
–50
ns
tbtuov
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output enable
–50
ns
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PDF描述
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