- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄377610 > LC4064ZC-75T100C (LATTICE SEMICONDUCTOR CORP) 3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High density PDLs PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號(hào)： | LC4064ZC-75T100C |
| 廠商： | LATTICE SEMICONDUCTOR CORP |
| 元件分類： | PLD |
| 英文描述： | 3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High density PDLs |
| 中文描述： | EE PLD, 7.5 ns, PQFP100 |
| 封裝： | TQFP-100 |
| 文件頁(yè)數(shù)： | 39/91頁(yè) |
| 文件大?。?/td> | 851K |
| 代理商： | LC4064ZC-75T100C |
第1頁(yè)第2頁(yè)第3頁(yè)第4頁(yè)第5頁(yè)第6頁(yè)第7頁(yè)第8頁(yè)第9頁(yè)第10頁(yè)第11頁(yè)第12頁(yè)第13頁(yè)第14頁(yè)第15頁(yè)第16頁(yè)第17頁(yè)第18頁(yè)第19頁(yè)第20頁(yè)第21頁(yè)第22頁(yè)第23頁(yè)第24頁(yè)第25頁(yè)第26頁(yè)第27頁(yè)第28頁(yè)第29頁(yè)第30頁(yè)第31頁(yè)第32頁(yè)第33頁(yè)第34頁(yè)第35頁(yè)第36頁(yè)第37頁(yè)第38頁(yè)當(dāng)前第39頁(yè)第40頁(yè)第41頁(yè)第42頁(yè)第43頁(yè)第44頁(yè)第45頁(yè)第46頁(yè)第47頁(yè)第48頁(yè)第49頁(yè)第50頁(yè)第51頁(yè)第52頁(yè)第53頁(yè)第54頁(yè)第55頁(yè)第56頁(yè)第57頁(yè)第58頁(yè)第59頁(yè)第60頁(yè)第61頁(yè)第62頁(yè)第63頁(yè)第64頁(yè)第65頁(yè)第66頁(yè)第67頁(yè)第68頁(yè)第69頁(yè)第70頁(yè)第71頁(yè)第72頁(yè)第73頁(yè)第74頁(yè)第75頁(yè)第76頁(yè)第77頁(yè)第78頁(yè)第79頁(yè)第80頁(yè)第81頁(yè)第82頁(yè)第83頁(yè)第84頁(yè)第85頁(yè)第86頁(yè)第87頁(yè)第88頁(yè)第89頁(yè)第90頁(yè)第91頁(yè)
Lattice Semiconductor
ispMACH 4000V/B/C/Z Family Data Sheet
39
Boundary Scan Waveforms and Timing Speci
fi
cations
Symbol
Parameter
Min.
Max.
Units
t
BTCP
t
BTCH
t
BTCL
t
BTSU
t
BTH
t
BRF
t
BTCO
t
BTOZ
t
BTVO
t
BTCPSU
t
BTCPH
t
BTUCO
t
BTUOZ
t
BTUOV
TCK [BSCAN test] clock cycle
40
—
ns
TCK [BSCAN test] pulse width high
20
—
ns
TCK [BSCAN test] pulse width low
20
—
ns
TCK [BSCAN test] setup time
8
—
ns
TCK [BSCAN test] hold time
10
—
ns
TCK [BSCAN test] rise and fall time
50
—
mV/ns
TAP controller falling edge of clock to valid output
—
10
ns
TAP controller falling edge of clock to data output disable
—
10
ns
TAP controller falling edge of clock to data output enable
—
10
ns
BSCAN test Capture register setup time
8
—
ns
BSCAN test Capture register hold time
10
—
ns
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to valid output
—
25
ns
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output disable
—
25
ns
BSCAN test Update reg, falling edge of clock to output enable
—
25
ns
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| LC4064ZC-75T48C | 3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High density PDLs |
| LC4256ZC-45M132C1 | 3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High density PDLs |
| LC4256ZC-45T100C | 3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High density PDLs |
| LC4256ZC-45T176C | 3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High density PDLs |
| LC4256ZC-75M132C1 | 3.3V/2.5V/1.8V In-System Programmable SuperFAST High density PDLs |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| LC4064ZC-75T100E | 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
| LC4064ZC-75T100I | 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
| LC4064ZC-75T48C | 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 1.8V 32 I/O RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
| LC4064ZC-75T48E | 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
| LC4064ZC-75T48I | 功能描述:CPLD - 復(fù)雜可編程邏輯器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存儲(chǔ)類型:EEPROM 大電池?cái)?shù)量:128 最大工作頻率:333 MHz 延遲時(shí)間:2.7 ns 可編程輸入/輸出端數(shù)量:64 工作電源電壓:3.3 V 最大工作溫度:+ 90 C 最小工作溫度:0 C 封裝 / 箱體:TQFP-100 |
發(fā)布緊急采購(gòu)，3分鐘左右您將得到回復(fù)。