參數(shù)資料
型號(hào)： LC5512MB-45FN256C
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁(yè)數(shù)： 44/99頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC CPLD 512MACROCELLS 256FPBGA
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 90
系列： ispXPLD® 5000MB
可編程類型： 系統(tǒng)內(nèi)可編程
最大延遲時(shí)間 tpd(1)： 4.5ns
電壓電源 - 內(nèi)部： 2.3 V ~ 2.7 V
邏輯元件/邏輯塊數(shù)目： 16
宏單元數(shù)： 512
輸入/輸出數(shù)： 193
工作溫度： 0°C ~ 90°C
安裝類型： 表面貼裝
封裝/外殼： 256-BGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 256-FPBGA（17x17）
包裝： 托盤
Lattice Semiconductor
ispXPLD 5000MX Family Data Sheet
45
Boundary Scan Timing Specifications
Over Recommended Operating Conditions
Parameter
Description
Min
Max
Units
tBTCP
TCK [BSCAN] clock pulse width
40
—
ns
tBTCPH
TCK [BSCAN] clock pulse width high
20
—
ns
tBTCPL
TCK [BSCAN] clock pulse width low
20
—
ns
tBTS
TCK [BSCAN] setup time
8
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN] hold time
10
—
ns
tBTRF
TCK [BSCAN] rise/fall time
50
—
mV/ns
tBTCO
TAP controller falling edge of clock to valid output
—
10
ns
tBTCODIS
TAP controller falling edge of clock to valid disable
—
10
ns
tBTCOEN
TAP controller falling edge of clock to valid enable
—
10
ns
tBTCRS
BSCAN test capture register setup time
8
—
ns
tBTCRH
BSCAN test capture register hold time
10
—
ns
tBUTCO
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid output
—
25
ns
tBTUODIS
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid disable
—
25
ns
tBTUPOEN
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid enable
—
25
ns
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DEVICES
DISCONTINUED
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PDF描述
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參數(shù)描述
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