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參數(shù)資料
型號： LFEC3E-3F256I
廠商： Lattice Semiconductor Corporation
文件頁數(shù)： 126/163頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC FPGA 3.1KLUTS 160I/O 256-BGA
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 90
系列： EC
邏輯元件/單元數(shù)： 3100
RAM 位總計(jì)： 56320
輸入/輸出數(shù)： 160
電源電壓： 1.14 V ~ 1.26 V
安裝類型： 表面貼裝
工作溫度： -40°C ~ 100°C
封裝/外殼： 256-BGA
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 256-FPBGA（17x17）
3-29
DC and Switching Characteristics
LatticeECP/EC Family Data Sheet
JTAG Port Timing Specifications
Over Recommended Operating Conditions
Figure 3-20. JTAG Port Timing Waveforms
Symbol
Parameter
Min
Max
Units
fMAX
TCK clock frequency
—
25
MHz
tBTCP
TCK [BSCAN] clock pulse width
40
—
ns
tBTCPH
TCK [BSCAN] clock pulse width high
20
—
ns
tBTCPL
TCK [BSCAN] clock pulse width low
20
—
ns
tBTS
TCK [BSCAN] setup time
8
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN] hold time
10
—
ns
tBTRF
TCK [BSCAN] rise/fall time
50
—
mV/ns
tBTCO
TAP controller falling edge of clock to valid output
—
10
ns
tBTCODIS
TAP controller falling edge of clock to valid disable
—
10
ns
tBTCOEN
TAP controller falling edge of clock to valid enable
—
10
ns
tBTCRS
BSCAN test capture register setup time
8
—
ns
tBTCRH
BSCAN test capture register hold time
25
—
ns
tBUTCO
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid output
—
25
ns
tBTUODIS
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid disable
—
25
ns
tBTUPOEN
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid enable
—
25
ns
Timing v.G 0.30
TMS
TDI
TCK
TDO
Data to be
captured
from I/O
Data to be
driven out
to I/O
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
Data Captured
tBTCPH
tBTCPL
tBTCOEN
tBTCRS
tBTUPOEN
tBUTCO
tBTUODIS
tBTCRH
tBTCO
tBTCODIS
tBTS
tBTH
tBTCP
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PDF描述
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參數(shù)描述
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