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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | M29W160DT70N6F |
| 廠商： | 意法半導(dǎo)體 |
| 英文描述： | 16 Mbit (2Mb x8 or 1Mb x16, Boot Block) 3V Supply Flash Memory |
| 中文描述： | 16兆位（含2Mb x8或1兆x16插槽，引導(dǎo)塊）3V電源快閃記憶體 |
| 文件頁數(shù)： | 35/44頁 |
| 文件大小： | 333K |
| 代理商： | M29W160DT70N6F |
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35/44
M29W160DT, M29W160DB
Table 25. CFI Query System Interface Information
Address
Data
Description
Value
x16
x8
1Bh
36h
0027h
V
CC
Logic Supply Minimum Program/Erase voltage
bit 7 to 4
BCD value in volts
bit 3 to 0
BCD value in 100 mV
2.7V
1Ch
38h
0036h
V
CC
Logic Supply Maximum Program/Erase voltage
bit 7 to 4
BCD value in volts
bit 3 to 0
BCD value in 100 mV
3.6V
1Dh
3Ah
0000h
V
PP
[Programming] Supply Minimum Program/Erase voltage
NA
1Eh
3Ch
0000h
V
PP
[Programming] Supply Maximum Program/Erase voltage
NA
1Fh
3Eh
0004h
Typical timeout per single byte/word program = 2
n
μs
16μs
20h
40h
0000h
Typical timeout for minimum size write buffer program = 2
n
μs
NA
21h
42h
000Ah
Typical timeout per individual block erase = 2
n
ms
1s
22h
44h
0000h
Typical timeout for full chip erase = 2
n
ms
NA
23h
46h
0004h
Maximum timeout for byte/word program = 2
n
times typical
256μs
24h
48h
0000h
Maximum timeout for write buffer program = 2
n
times typical
NA
25h
4Ah
0003h
Maximum timeout per individual block erase = 2
n
times typical
8s
26h
4Ch
0000h
Maximum timeout for chip erase = 2
n
times typical
NA
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PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
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