VCC GND VALID
參數(shù)資料
型號(hào)： MC74HC595ANG
廠商： ON Semiconductor
文件頁(yè)數(shù)： 10/12頁(yè)
文件大?。?/td> 0K
描述： IC SHIFT REGISTER 8BIT 3ST 16DIP
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 500
系列： 74HC
邏輯類(lèi)型： 移位寄存器
輸出類(lèi)型： 三態(tài)
元件數(shù)： 1
每個(gè)元件的位元數(shù)： 8
功能： 串行至并行
電源電壓： 2 V ~ 6 V
工作溫度： -55°C ~ 125°C
安裝類(lèi)型： 通孔
封裝/外殼： 16-DIP（0.300"，7.62mm）
供應(yīng)商設(shè)備封裝： 16-DIP
包裝： 管件
產(chǎn)品目錄頁(yè)面： 1123 (CN2011-ZH PDF)
其它名稱(chēng)： MC74HC595ANGOS
MC74HC595A
http://onsemi.com
7
SWITCHING WAVEFORMS
SERIAL
INPUT A
50%
SWITCH
CLOCK
VCC
GND
VALID
tsu
th
Figure 5.
SHIFT
CLOCK
OUTPUT
SQH
tr
tf
VCC
GND
90%
50%
10%
90%
50%
10%
tPLH
tPHL
tTLH
tTHL
tw
1/fmax
RESET
OUTPUT
SQH
SHIFT
CLOCK
tw
50%
VCC
GND
VCC
GND
tPHL
trec
tsu
50%
VCC
GND
LATCH
CLOCK
QA-QH
OUTPUTS
50%
tPLH
tPHL
tTLH
tTHL
90%
50%
10%
VCC
GND
VCC
GND
SHIFT
CLOCK
LATCH
CLOCK
Figure 3.
VCC
GND
tw
Figure 1.
Figure 2.
Figure 4.
Figure 6.
OUTPUT Q
50%
90%
10%
tPZL
tPLZ
tPZH
tPHZ
VCC
GND
HIGH
IMPEDANCE
VOL
VOH
HIGH
IMPEDANCE
OUTPUT
ENABLE
50%
TEST CIRCUITS
*Includes all probe and jig capacitance
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
*Includes all probe and jig capacitance
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
CONNECT TO VCC WHEN
TESTING tPLZ AND tPZL.
CONNECT TO GND WHEN
TESTING tPHZ AND tPZH.
1 k
W
Figure 7.
Figure 8.
相關(guān)PDF資料
PDF描述
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VE-B14-MU-F1 CONVERTER MOD DC/DC 48V 200W
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參數(shù)描述
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MC74HC597ADG 功能描述:計(jì)數(shù)器移位寄存器 RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計(jì)數(shù)器類(lèi)型: 計(jì)數(shù)順序:Serial to Serial/Parallel 電路數(shù)量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類(lèi)型: 輸入線路數(shù)量:1 輸出類(lèi)型:Open Drain 傳播延遲時(shí)間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel
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MC74HC597ADTG 功能描述:計(jì)數(shù)器移位寄存器 RoHS:否 制造商:Texas Instruments 計(jì)數(shù)器類(lèi)型: 計(jì)數(shù)順序:Serial to Serial/Parallel 電路數(shù)量:1 封裝 / 箱體:SOIC-20 Wide 邏輯系列: 邏輯類(lèi)型: 輸入線路數(shù)量:1 輸出類(lèi)型:Open Drain 傳播延遲時(shí)間:650 ns 最大工作溫度:+ 125 C 最小工作溫度:- 40 C 封裝:Reel
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