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參數(shù)資料
| 型號： | MC9S08GT60CFD |
| 廠商： | Freescale Semiconductor |
| 文件頁數(shù)： | 143/290頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | MCU 8BIT 60K FLASH 48-QFN |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 260 |
| 系列： | S08 |
| 核心處理器： | S08 |
| 芯體尺寸： | 8-位 |
| 速度： | 40MHz |
| 連通性： | I²C，SCI，SPI |
| 外圍設(shè)備： | LVD，POR，PWM，WDT |
| 輸入/輸出數(shù)： | 39 |
| 程序存儲(chǔ)器容量： | 60KB（60K x 8） |
| 程序存儲(chǔ)器類型： | 閃存 |
| RAM 容量： | 4K x 8 |
| 電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： | 1.8 V ~ 3.6 V |
| 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： | A/D 8x10b |
| 振蕩器型： | 內(nèi)部 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 48-VFQFN 裸露焊盤 |
| 包裝： | 托盤 |
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Functional Description
MC9S08GB/GT Data Sheet, Rev. 2.3
Freescale Semiconductor
227
Full scale error (EFS) — This is the difference between the transition voltage to the last valid code
and the ideal transition to that code. Normally, it is dened as the difference between the actual and
ideal transition to code $3FF, but in some cases the last transition may be to a lower code. The ideal
transition to any code is:
Eqn. 14-8
Total unadjusted error (ETU) — This is the difference between the transition voltage to a given code
and the ideal straight-line transfer function. An alternate denition (with the same result) is the
difference between the actual transfer function and the ideal straight-line transfer function. This
measure of error includes inherent quantization error and all forms of circuit error (INL, DNL,
zero-scale, and full-scale) except input leakage error, which is not due to the ATD.
Input leakage error (EIL) — This is the error between the transition voltage to the current code and
the ideal transition to that code that is the result of input leakage across the real portion of the
impedance of the network that drives the analog input. This error is a system-observable error
which is not inherent to the ATD, so it is not added to total error. This error is:
EIL (in V) = input leakage * RAS
Eqn. 14-9
There are two other forms of error which are not specied which can also affect ATD accuracy. These are:
Sampling error (ES) — The error due to inadequate time to charge the ATD circuitry
Noise error (EN) — The error due to noise on VAIN,VREFH,orVREFL due to either direct coupling
(noise source capacitively coupled directly on the signal) or power supply (VDDAD,VSSAD,VDD,
and VSS) noise interfering with the ATD’s ability to resolve the input accurately. The error due to
internal sources can be reduced (and specied operation achieved) by operating the ATD
conversion in wait mode and ceasing all IO activity. Reducing the error due to external sources is
dependent on system activity and board layout.
(Current Code - 1/2)
Ideal Transition V =
2N
*(VREFH – VREFL)
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| MC9S08GT8ACFDER | MCU 8BIT 8K FLASH 48-QFN |
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| MC9S08JM60CLH | IC MCU 8BIT 60K FLASH 64-LQFP |
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
|---|---|
| MC9S08GT60CFDE | 功能描述:8位微控制器 -MCU 8BIT 60K FLASH 4K RAM RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 處理器系列:C8051F39x 數(shù)據(jù)總線寬度:8 bit 最大時(shí)鐘頻率:50 MHz 程序存儲(chǔ)器大小:16 KB 數(shù)據(jù) RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:1.8 V to 3.6 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 105 C 封裝 / 箱體:QFN-20 安裝風(fēng)格:SMD/SMT |
| MC9S08GT60CFDER | 功能描述:8位微控制器 -MCU 8BIT 60K FLASH 4K RAM RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 處理器系列:C8051F39x 數(shù)據(jù)總線寬度:8 bit 最大時(shí)鐘頻率:50 MHz 程序存儲(chǔ)器大小:16 KB 數(shù)據(jù) RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:1.8 V to 3.6 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 105 C 封裝 / 箱體:QFN-20 安裝風(fēng)格:SMD/SMT |
| MC9S08GT60CFU | 制造商:FREESCALE 制造商全稱:Freescale Semiconductor, Inc 功能描述:Microcontrollers |
| MC9S08GT60CMC | 制造商:FREESCALE 制造商全稱:Freescale Semiconductor, Inc 功能描述:Microcontrollers |
| MC9S08GT8A | 制造商:FREESCALE 制造商全稱:Freescale Semiconductor, Inc 功能描述:Microcontrollers |
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