參數(shù)資料
型號： MC9S08SH16MWL
廠商： Freescale Semiconductor
文件頁數(shù)： 239/328頁
文件大小： 0K
描述： MCU 8BIT 16K FLASH 28-SOIC
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 26
系列： S08
核心處理器： S08
芯體尺寸： 8-位
速度： 40MHz
連通性： I²C，LIN，SCI，SPI
外圍設(shè)備： LVD，POR，PWM，WDT
輸入/輸出數(shù)： 23
程序存儲器容量： 16KB（16K x 8）
程序存儲器類型： 閃存
RAM 容量： 1K x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 2.7 V ~ 5.5 V
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： A/D 16x10b
振蕩器型： 內(nèi)部
工作溫度： -40°C ~ 125°C
封裝/外殼： 28-SOIC（0.295"，7.50mm 寬）
包裝： 管件
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Appendix A Electrical Characteristics
MC9S08SH32 Series Data Sheet, Rev. 2
Freescale Semiconductor
313
A.14
EMC Performance
Electromagnetic compatibility (EMC) performance is highly dependant on the environment in which the
MCU resides. Board design and layout, circuit topology choices, location and characteristics of external
components as well as MCU software operation all play a signicant role in EMC performance. The
system designer should consult Freescale applications notes such as AN2321, AN1050, AN1263,
AN2764, and AN1259 for advice and guidance specically targeted at optimizing EMC performance.
A.14.1
Radiated Emissions
Microcontroller radiated RF emissions are measured from 150 kHz to 1 GHz using the TEM/GTEM Cell
method in accordance with the IEC 61967-2 and SAE J1752/3 standards. The measurement is performed
with the microcontroller installed on a custom EMC evaluation board while running specialized EMC test
software. The radiated emissions from the microcontroller are measured in a TEM cell in two package
orientations (North and East).
The maximum radiated RF emissions of the tested conguration in all orientations are less than or equal
to the reported emissions levels.
A.14.2
Conducted Transient Susceptibility
Microcontroller transient conducted susceptibility is measured in accordance with an internal Freescale
test method. The measurement is performed with the microcontroller installed on a custom EMC
evaluation board and running specialized EMC test software designed in compliance with the test method.
The conducted susceptibility is determined by injecting the transient susceptibility signal on each pin of
the microcontroller. The transient waveform and injection methodology is based on IEC 61000-4-4
(EFT/B). The transient voltage required to cause performance degradation on any pin in the tested
conguration is greater than or equal to the reported levels unless otherwise indicated by footnotes below
Table A-17. Radiated Emissions, Electric Field
Parameter
Symbol
Conditions
Frequency
fOSC/fBUS
Level1
(Max)
1 Data based on qualication test results.
Unit
Radiated emissions,
electric eld
VRE_TEM
VDD = TBD
TA = +25
oC
package type
TBD
0.15 – 50 MHz
TBD crystal
TBD bus
TBD
dB
μV
50 – 150 MHz
TBD
150 – 500 MHz
TBD
500 – 1000 MHz
TBD
IEC Level
TBD
—
SAE Level
TBD
—
PRELIMINARY
相關(guān)PDF資料
PDF描述
MC9S08DN16CLF IC MCU 16K FLASH 1K RAM 48LQFP
MC9S08QE128CFT IC MCU 8BIT 128K FLASH 48-QFN
MC9S08DN16ACLC IC MCU 16K FLASH 1K RAM 32LQFP
MC908QC8CDRE IC MCU 8BIT 8K FLASH 28-TSSOP
MC9S08SE4VWL MCU 8BIT 4K FLASH 5V 28-SOIC
相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù)
參數(shù)描述
MC9S08SH16MWLRR 制造商:FREESCALE 制造商全稱:Freescale Semiconductor, Inc 功能描述:Microcontrollers
MC9S08SH16VTG 功能描述:8位微控制器 -MCU 5V MCU w/16K FLASH RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 處理器系列:C8051F39x 數(shù)據(jù)總線寬度:8 bit 最大時鐘頻率:50 MHz 程序存儲器大小:16 KB 數(shù)據(jù) RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:1.8 V to 3.6 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 105 C 封裝 / 箱體:QFN-20 安裝風(fēng)格:SMD/SMT
MC9S08SH16VTJ 功能描述:8位微控制器 -MCU 5V MCU w/16K FLASH RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 處理器系列:C8051F39x 數(shù)據(jù)總線寬度:8 bit 最大時鐘頻率:50 MHz 程序存儲器大小:16 KB 數(shù)據(jù) RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:1.8 V to 3.6 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 105 C 封裝 / 箱體:QFN-20 安裝風(fēng)格:SMD/SMT
MC9S08SH16VTJR 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:S08 16K FLASH - Tape and Reel
MC9S08SH16VTL 功能描述:8位微控制器 -MCU 5V MCU w/16K FLASH RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 處理器系列:C8051F39x 數(shù)據(jù)總線寬度:8 bit 最大時鐘頻率:50 MHz 程序存儲器大小:16 KB 數(shù)據(jù) RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:1.8 V to 3.6 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 105 C 封裝 / 箱體:QFN-20 安裝風(fēng)格:SMD/SMT
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