參數(shù)資料
型號(hào)： MC9S12GC128PVPB25
廠商： MOTOROLA INC
元件分類： 微控制器/微處理器
英文描述： 16-BIT, FLASH, 25 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP52
封裝： LQFP-52
文件頁(yè)數(shù)： 10/136頁(yè)
文件大小： 2022K
代理商： MC9S12GC128PVPB25
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Device User Guide — 9S12C128DGV1/D V01.05
107
B.5.2 NVM Reliability
The reliability of the NVM blocks is guaranteed by stress test during qualification, constant process
monitors and burn-in to screen early life failures.
The failure rates for data retention and program/erase cycling are specified at
<2ppm defects over lifetime
at the operating conditions noted.
A program/erase cycle is specified as two transitions of the cell value from erased
→ programmed →
erased, 1
→ 0 → 1.
NOTE:
All values shown in Table B-9 are target values and subject to further extensive
characterization.
Table B-9 NVM Reliability Characteristics
Conditions are shown in Table A-4 unless otherwise noted
Num
C
Rating
Symbol
Min
Typ
Max
Unit
1C
Data Retention at an average junction temperature of
TJavg = 85°C
tNVMRET
15
Years
2
C
Flash number of Program/Erase cycles
nFLPE
10,000
Cycles
相關(guān)PDF資料
PDF描述
MC9S12GC32PMFA25 16-BIT, FLASH, 25 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP48
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MC9S12C128VFU16 16-BIT, FLASH, 16 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP80
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參數(shù)描述
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