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參數(shù)資料
| 型號： | MPC8323EVRADDC |
| 廠商： | Freescale Semiconductor |
| 文件頁數(shù)： | 5/82頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC MPU POWERQUICC II 516-PBGA |
| 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： | MPC8323E PowerQUICC II Pro Processor |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 40 |
| 系列： | MPC83xx |
| 處理器類型： | 32-位 MPC83xx PowerQUICC II Pro |
| 速度： | 266MHz |
| 電壓： | 1V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 516-BBGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 516-FPBGA（27x27） |
| 包裝： | 托盤 |
| 配用： | MPC8323E-RDB-ND - BOARD REFERENCE DESIGN |
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MPC8323E PowerQUICC II Pro Integrated Communications Processor Family Hardware Specifications, Rev. 4
Freescale Semiconductor
13
DDR1 and DDR2 SDRAM
6
DDR1 and DDR2 SDRAM
This section describes the DC and AC electrical specifications for the DDR1 and DDR2 SDRAM interface
of the MPC8323E. Note that DDR1 SDRAM is Dn_GVDD(typ) = 2.5 V and DDR2 SDRAM is
Dn_GVDD(typ) = 1.8 V. The AC electrical specifications are the same for DDR1 and DDR2 SDRAM.
6.1
DDR1 and DDR2 SDRAM DC Electrical Characteristics
Table 12 provides the recommended operating conditions for the DDR2 SDRAM component(s) of the
MPC8323E when Dn_GVDD(typ) = 1.8 V.
Input current
IIN
0 V
≤ VIN ≤ OVDD
—
±5
μA—
Note:
1. This specification applies when operating from 3.3 V supply.
Table 12. DDR2 SDRAM DC Electrical Characteristics for D
n
_GVDD(typ) = 1.8 V
Parameter/Condition
Symbol
Min
Max
Unit
Notes
I/O supply voltage
D
n
_GV
DD
1.71
1.89
V
1
I/O reference voltage
MVREF
nREF
0.49
× Dn_GVDD
0.51
× Dn_GVDD
V2
I/O termination voltage
VTT
MVREF
nREF – 0.04
MVREF
nREF +0.04
V
3
Input high voltage
VIH
MVREF
nREF + 0.125
D
n
_GV
DD +0.3
V
—
Input low voltage
VIL
–0.3
MVREF
nREF – 0.125
V
—
Output leakage current
IOZ
–9.9
9.9
μA4
Output high current (VOUT = 1.35 V)
IOH
–13.4
—
mA
—
Output low current (VOUT = 0.280 V)
IOL
13.4
—
mA
—
Notes:
1. D
n
_GV
DD is expected to be within 50 mV of the DRAM Dn_GVDD at all times.
2. MVREF
nREF is expected to be equal to 0.5 × Dn_GVDD, and to track Dn_GVDD DC variations as measured at the receiver.
Peak-to-peak noise on MVREF
nREF may not exceed ±2% of the DC value.
3. VTT is not applied directly to the device. It is the supply to which far end signal termination is made and is expected to be
equal to MVREF
nREF. This rail should track variations in the DC level of MVREFnREF.
4. Output leakage is measured with all outputs disabled, 0 V
≤ VOUT ≤ Dn_GVDD.
Table 13. DDR2 SDRAM Capacitance for D
n
_GVDD(typ) = 1.8 V
Parameter/Condition
Symbol
Min
Max
Unit
Notes
Input/output capacitance: DQ, DQS
CIO
68
pF
1
Table 11. Reset Signals DC Electrical Characteristics (continued)
Characteristic
Symbol
Condition
Min
Max
Unit
Notes
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