參數(shù)資料
型號： MPS2907ARLRM
廠商： ON SEMICONDUCTOR
元件分類： 功率晶體管
英文描述： General Purpose Transistors(PNP Silicon)
中文描述： 600 mA, 60 V, PNP, Si, SMALL SIGNAL TRANSISTOR, TO-92
封裝： CASE 29-11, TO-226AA, 3 PIN
文件頁數(shù)： 2/6頁
文件大小： 245K
代理商： MPS2907ARLRM
2
Motorola Small–Signal Transistors, FETs and Diodes Device Data
ELECTRICAL CHARACTERISTICS
(TA = 25
°
C unless otherwise noted) (Continued)
Characteristic
Symbol
Min
Max
Unit
ON CHARACTERISTICS
DC Current Gain
(IC = –0.1 mAdc, VCE = –10 Vdc)
MPS2907
MPS2907A
MPS2907
MPS2907A
MPS2907
MPS2907A
MPS2907, MPS2907A
MPS2907
MPS2907A
(IC = –1.0 mAdc, VCE = –10 Vdc)
(IC = –10 mAdc, VCE = –10 Vdc)
(IC = –150 mAdc, VCE = –10 Vdc)(1)
(IC = –500 mAdc, VCE = –10 Vdc)(1)
hFE
35
75
50
100
75
100
100
30
50
—
—
—
—
—
—
300
—
—
—
Collector–Emitter Saturation Voltage(1)
(IC = –150 mAdc, IB = –15 mAdc)
(IC = –500 mAdc, IB = –50 mAdc)
Base–Emitter Saturation Voltage(1)
(IC = –150 mAdc, IB = –15 mAdc)
(IC = –500 mAdc, IB = –50 mAdc)
SMALL–SIGNAL CHARACTERISTICS
Current–Gain — Bandwidth Product(1), (2)
(IC = –50 mAdc, VCE = –20 Vdc, f = 100 MHz)
VCE(sat)
—
—
–0.4
–1.6
Vdc
VBE(sat)
—
—
–1.3
–2.6
Vdc
fT
200
—
MHz
Output Capacitance
(VCB = –10 Vdc, IE = 0, f = 1.0 MHz)
Cobo
—
8.0
pF
Input Capacitance
(VEB = –2.0 Vdc, IC = 0, f = 1.0 MHz)
SWITCHING CHARACTERISTICS
Cibo
—
30
pF
Turn–On Time
(VCC = –30 Vdc, IC = –150 mAdc,
IB1 = –15 mAdc) (Figures 1 and 5)
ton
td
tr
toff
—
45
ns
Delay Time
—
10
ns
Rise Time
—
40
ns
Turn–Off Time
(VCC = –6.0 Vdc, IC = –150 mAdc,
IB1 = IB2 = 15 mAdc) (Figure 2)
—
100
ns
Storage Time
ts
tf
—
80
ns
Fall Time
—
30
ns
1. Pulse Test: Pulse Width
2. fT is defined as the frequency at which |hfe| extrapolates to unity.
300 s, Duty Cycle
2.0%.
0
0
–16 V
200 ns
50
1.0 k
200
–30 V
TO OSCILLOSCOPE
RISE TIME
≤
5.0 ns
+15 V
–6.0 V
1.0 k
37
50
1N916
1.0 k
200 ns
–30 V
TO OSCILLOSCOPE
RISE TIME
≤
5.0 ns
INPUT
Zo = 50
PRF = 150 PPS
RISE TIME
≤
2.0 ns
P.W. < 200 ns
INPUT
Zo = 50
PRF = 150 PPS
RISE TIME
≤
2.0 ns
P.W. < 200 ns
Figure 1. Delay and Rise Time Test Circuit
Figure 2. Storage and Fall Time Test Circuit
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PDF描述
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