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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | MQ80C154-16/883R |
| 廠商： | TEMIC SEMICONDUCTORS |
| 元件分類： | 微控制器/微處理器 |
| 英文描述： | 8-BIT, 16 MHz, MICROCONTROLLER, CQFP44 |
| 文件頁數(shù)： | 192/395頁 |
| 文件大小： | 8161K |
| 代理商： | MQ80C154-16/883R |
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271
8018P–AVR–08/10
ATmega169P
Note:
1. Incorrect setting of the switches in Figure 25-9 on page 268 will make signal contention and
may damage the part. There are several input choices to the S&H circuitry on the negative
input of the output comparator in Figure 25-9 on page 268. Make sure only one path is
selected from either one ADC pin, Bandgap reference source, or Ground.
If the ADC is not to be used during scan, the recommended input values from Table 25-3 on
page 269 should be used. The user is recommended not to use the Differential Amplifier during
scan. Switch-Cap based differential amplifier requires fast operation and accurate timing which
is difficult to obtain when used in a scan chain. Details concerning operations of the differential
amplifier is therefore not provided.
The AVR ADC is based on the analog circuitry shown in Figure 25-9 on page 268 with a succes-
sive approximation algorithm implemented in the digital logic. When used in Boundary-scan, the
problem is usually to ensure that an applied analog voltage is measured within some limits. This
can easily be done without running a successive approximation algorithm: apply the lower limit
on the digital DAC[9:0] lines, make sure the output from the comparator is low, then apply the
upper limit on the digital DAC[9:0] lines, and verify the output from the comparator to be high.
The ADC need not be used for pure connectivity testing, since all analog inputs are shared with
a digital port pin as well.
When using the ADC, remember the following:
The port pin for the ADC channel in use must be configured to be an input with pull-up disabled
to avoid signal contention.
In Normal mode, a dummy conversion (consisting of 10 comparisons) is performed when
enabling the ADC. The user is advised to wait at least 200 ns after enabling the ADC before
controlling/observing any ADC signal, or perform a dummy conversion before using the first
result.
The DAC values must be stable at the midpoint value 0x200 when having the HOLD signal low
(Sample mode).
As an example, consider the task of verifying a 1.5V ±5% input signal at ADC channel 3 when
the power supply is 5.0V and AREF is externally connected to V
CC.
The recommended values from Table 25-3 on page 269 are used unless other values are given
in the algorithm in Table 25-4 on page 272. Only the DAC and port pin values of the Scan Chain
are shown. The column “Actions” describes what JTAG instruction to be used before filling the
Boundary-scan Register with the succeeding columns. The verification should be done on the
data scanned out when scanning in the data on the same row in the table.
The lower limit is:
1024 1.5
V 0,95 5V
291
0x123
==
The upper limit is:
1024 1.5
V 1.05 5V
323
0x143
==
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
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相關(guān)代理商/技術(shù)參數(shù) |
參數(shù)描述 |
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| MQ80C154-30 | 制造商:TEMIC 制造商全稱:TEMIC Semiconductors 功能描述:CMOS 0 to 36 MHz Single Chip 8-bit Microcontroller |
| MQ80C154-36 | 制造商:TEMIC 制造商全稱:TEMIC Semiconductors 功能描述:CMOS 0 to 36 MHz Single Chip 8-bit Microcontroller |
| MQ80C154-L16 | 制造商:TEMIC 制造商全稱:TEMIC Semiconductors 功能描述:CMOS 0 to 36 MHz Single Chip 8-bit Microcontroller |
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