DD
參數(shù)資料
型號(hào)： PIC18F4480-I/P
廠商： Microchip Technology
文件頁數(shù)： 66/88頁
文件大?。?/td> 0K
描述： IC PIC MCU FLASH 8KX16 40DIP
產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： Asynchronous Stimulus
PIC18 J Series MCU Overview
8-bit PIC® Microcontroller Portfolio
標(biāo)準(zhǔn)包裝： 10
系列： PIC® 18F
核心處理器： PIC
芯體尺寸： 8-位
速度： 40MHz
連通性： CAN，I²C，SPI，UART/USART
外圍設(shè)備： 欠壓檢測(cè)/復(fù)位，HLVD，POR，PWM，WDT
輸入/輸出數(shù)： 36
程序存儲(chǔ)器容量： 16KB（8K x 16）
程序存儲(chǔ)器類型： 閃存
EEPROM 大?。?/td> 256 x 8
RAM 容量： 768 x 8
電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： 4.2 V ~ 5.5 V
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： A/D 11x10b
振蕩器型： 內(nèi)部
工作溫度： -40°C ~ 85°C
封裝/外殼： 40-DIP（0.600"，15.24mm）
包裝： 管件
產(chǎn)品目錄頁面： 645 (CN2011-ZH PDF)
配用： DVA18XP400-ND - DEVICE ADAPTER 18F4220 PDIP 40LD
444-1001-ND - DEMO BOARD FOR PICMICRO MCU
ACICE0206-ND - ADAPTER MPLABICE 40P 600 MIL
2010 Microchip Technology Inc.
DS21801F-page 69
MCP2515
13.0
ELECTRICAL CHARACTERISTICS
13.1
Absolute Maximum Ratings
V
DD............................................................................................................................................................................. 7.0V
All inputs and outputs w.r.t. VSS ..........................................................................................................-0.6V to VDD +1.0V
Storage temperature ............................................................................................................................... -65°C to +150°C
Ambient temperature with power applied................................................................................................-65°C to +125°C
Soldering temperature of leads (10 seconds) ....................................................................................................... +300°C
Notice: Stresses above those listed under “Maximum Ratings” may cause permanent damage to the device. This
is a stress rating only and functional operation of the device at those or any other conditions above those indicated in
the operational listings of this specification is not implied. Exposure to maximum rating conditions for extended periods
may affect device reliability.
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PDF描述
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