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參數(shù)資料
| 型號： | PK30X128VMD100 |
| 廠商： | Freescale Semiconductor |
| 文件頁數(shù)： | 16/74頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC ARM CORTEX MCU 128K 144-MAP |
| 產(chǎn)品培訓(xùn)模塊： | Kinetis® Cortex-M4 Microcontroller Family |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 1 |
| 系列： | Kinetis |
| 核心處理器： | ARM? Cortex?-M4 |
| 芯體尺寸： | 32-位 |
| 速度： | 100MHz |
| 連通性： | CAN，EBI/EMI，I²C，IrDA，SDHC，SPI，UART/USART |
| 外圍設(shè)備： | DMA，I²S，LCD，LVD，POR，PWM，WDT |
| 輸入/輸出數(shù)： | 102 |
| 程序存儲器容量： | 128KB（128K x 8） |
| 程序存儲器類型： | 閃存 |
| EEPROM 大?。?/td> | 4K x 8 |
| RAM 容量： | 32K x 8 |
| 電壓 - 電源 (Vcc/Vdd)： | 1.71 V ~ 3.6 V |
| 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器： | A/D 37x16b，D/A 2x12b |
| 振蕩器型： | 內(nèi)部 |
| 工作溫度： | -40°C ~ 105°C |
| 封裝/外殼： | 144-LBGA |
| 包裝： | 托盤 |
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2.
Determined according to JEDEC Standard JESD51-8, Integrated Circuit Thermal Test Method Environmental
Conditions—Junction-to-Board.
3.
Determined according to Method 1012.1 of MIL-STD 883, Test Method Standard, Microcircuits, with the cold plate
temperature used for the case temperature. The value includes the thermal resistance of the interface material
between the top of the package and the cold plate.
4.
Determined according to JEDEC Standard JESD51-2, Integrated Circuits Thermal Test Method Environmental
Conditions—Natural Convection (Still Air).
6 Peripheral operating requirements and behaviors
6.1 Core modules
6.1.1 Debug trace timing specifications
Table 12. Debug trace operating behaviors
Symbol
Description
Min.
Max.
Unit
Tcyc
Clock period
Frequency dependent
MHz
Twl
Low pulse width
2
—
ns
Twh
High pulse width
2
—
ns
Tr
Clock and data rise time
—
3
ns
Tf
Clock and data fall time
—
3
ns
Ts
Data setup
3
—
ns
Th
Data hold
2
—
ns
Figure 3. TRACE_CLKOUT specifications
Th
Ts
Th
TRACE_CLKOUT
TRACE_D[3:0]
Figure 4. Trace data specifications
Peripheral operating requirements and behaviors
K30 Sub-Family Data Sheet Data Sheet, Rev. 7, 02/2013.
Freescale Semiconductor, Inc.
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PDF描述 |
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參數(shù)描述 |
|---|---|
| PK30X256VLQ100 | 功能描述:ARM微控制器 - MCU KINETIS 256KFLEX LCD (pre-qual sample) RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 核心:ARM Cortex M4F 處理器系列:STM32F373xx 數(shù)據(jù)總線寬度:32 bit 最大時鐘頻率:72 MHz 程序存儲器大小:256 KB 數(shù)據(jù) RAM 大小:32 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:1.65 V to 3.6 V, 2 V to 3.6 V, 2.2 V to 3.6 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 85 C 封裝 / 箱體:LQFP-48 安裝風(fēng)格:SMD/SMT |
| PK30X256VMD100 | 功能描述:ARM微控制器 - MCU Kinetis 256Kflex LCD (pre-qual sample) RoHS:否 制造商:STMicroelectronics 核心:ARM Cortex M4F 處理器系列:STM32F373xx 數(shù)據(jù)總線寬度:32 bit 最大時鐘頻率:72 MHz 程序存儲器大小:256 KB 數(shù)據(jù) RAM 大小:32 KB 片上 ADC:Yes 工作電源電壓:1.65 V to 3.6 V, 2 V to 3.6 V, 2.2 V to 3.6 V 工作溫度范圍:- 40 C to + 85 C 封裝 / 箱體:LQFP-48 安裝風(fēng)格:SMD/SMT |
| PK30X-3 | 功能描述:測試探頭 Banana Jaw Clip Re RoHS:否 制造商:Teledyne LeCroy 設(shè)備類型:Passive Probes 帶寬:500 MHz 尖端類型: 長度:1.3 mm 顏色:Black 電壓額定值: 電流額定值: |
| PK30X-4 | 功能描述:測試探頭 Banana Clamp Clips RoHS:否 制造商:Teledyne LeCroy 設(shè)備類型:Passive Probes 帶寬:500 MHz 尖端類型: 長度:1.3 mm 顏色:Black 電壓額定值: 電流額定值: |
| PK30X-5 | 功能描述:測試探頭 Banana Spade Term RoHS:否 制造商:Teledyne LeCroy 設(shè)備類型:Passive Probes 帶寬:500 MHz 尖端類型: 長度:1.3 mm 顏色:Black 電壓額定值: 電流額定值: |
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