- 您現(xiàn)在的位置：買賣IC網(wǎng) > PDF目錄385801 > S29GL064M90FAIR03 (Spansion Inc.) 3.0 Volt-only Page Mode Flash Memory featuring 0.23 um MirrorBit process technology PDF資料下載
參數(shù)資料
| 型號： | S29GL064M90FAIR03 |
| 廠商： | Spansion Inc. |
| 英文描述： | 3.0 Volt-only Page Mode Flash Memory featuring 0.23 um MirrorBit process technology |
| 中文描述： | 3.0伏只頁面模式閃存具有0.23微米工藝技術(shù)的MirrorBit |
| 文件頁數(shù)： | 124/160頁 |
| 文件大?。?/td> | 2142K |
| 代理商： | S29GL064M90FAIR03 |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁當前第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁
124
S29GLxxxM MirrorBit
TM
Flash Family
S29GLxxxM_00A5 April 30, 2004
P r e l i m i n a r y
AC Characteristics
Read-Only Operations-S29GL256M only
Parameter
JEDEC
Std.
Notes:
1. Not 100% tested.
2. See
Figure 11
and Table
34
for test specifications.
Read-Only Operations-S29GL128M only
Parameter
JEDEC
Std.
Notes:
1. Not 100% tested.
2. See
Figure 11
and Table
34
for test specifications.
Description
Test Setup
Speed Options
10
Unit
11
t
AVAV
t
RC
Read Cycle Time (Note 1)
Min
100
100
ns
t
AVQV
t
ACC
Address to Output Delay
CE#, OE# = V
IL
Max
100
100
ns
t
ELQV
t
CE
Chip Enable to Output Delay
OE# = V
IL
Max
100
100
ns
t
PACC
Page Access Time
Max
30
30
ns
t
GLQV
t
OE
Output Enable to Output Delay
Max
30
30
ns
t
EHQZ
t
DF
Chip Enable to Output High Z (Note 1)
Max
16
ns
t
GHQZ
t
DF
Output Enable to Output High Z (Note 1)
Max
16
ns
t
AXQX
t
OH
Output Hold Time From Addresses, CE# or OE#,
Whichever Occurs First
Min
0
ns
t
OEH
Output Enable Hold Time
(Note 1)
Read
Min
0
ns
Toggle and
Data# Polling
Min
10
ns
Description
Test Setup
Speed Options
90
Unit
10
t
AVAV
t
RC
Read Cycle Time (Note 1)
Min
90
100
ns
t
AVQV
t
ACC
Address to Output Delay
CE#, OE# = V
IL
Max
90
100
ns
t
ELQV
t
CE
Chip Enable to Output Delay
OE# = V
IL
Max
90
100
ns
t
PACC
Page Access Time
Max
25
30
ns
t
GLQV
t
OE
Output Enable to Output Delay
Max
25
30
ns
t
EHQZ
t
DF
Chip Enable to Output High Z (Note 1)
Max
16
ns
t
GHQZ
t
DF
Output Enable to Output High Z (Note 1)
Max
16
ns
t
AXQX
t
OH
Output Hold Time From Addresses, CE# or OE#,
Whichever Occurs First
Min
0
ns
t
OEH
Output Enable Hold Time
(Note 1)
Read
Min
0
ns
Toggle and
Data# Polling
Min
10
ns
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