參數(shù)資料
型號: SN74ABT8952DLRG4
廠商: Texas Instruments
文件頁數(shù): 23/31頁
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描述: IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP
標(biāo)準(zhǔn)包裝: 1,000
系列: 74ABT
邏輯類型: 掃描測試設(shè)備,帶寄存總線收發(fā)器
電源電壓: 4.5 V ~ 5.5 V
位數(shù): 8
工作溫度: -40°C ~ 85°C
安裝類型: 表面貼裝
封裝/外殼: 28-BSSOP(0.295",7.50mm 寬)
供應(yīng)商設(shè)備封裝: 28-SSOP
包裝: 帶卷 (TR)
SN54ABT8952, SN74ABT8952
SCAN TEST DEVICES WITH
OCTAL REGISTERED BUS TRANSCEIVERS
SCBS121D – AUGUST 1992 – REVISED JULY 1996
3
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
functional block diagram
Boundary-Control
Register
Bypass Register
Boundary-Scan Register
Instruction Register
TDI
TMS
TCK
TDO
TAP
Controller
VCC
1D
C1
1D
C1
One of Eight Channels
OEBA
CLKENBA
CLKBA
OEAB
CLKENAB
CLKAB
A1
B1
G1
1
G1
1
MUX
25
13
26
27
28
3
2
1
4
16
14
15
Pin numbers shown are for the DL, DW, and JT packages.
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PDF描述
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