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參數資料
| 型號： | SN74ABTH16823DGG |
| 廠商： | Texas Instruments, Inc. |
| 英文描述： | 18-BIT BUS-INTERFACE FLIP-FLOPS WITH 3-STATE OUTPUTS |
| 中文描述： | 18位總線接口倒裝3觸發(fā)器態(tài)輸出 |
| 文件頁數： | 8/9頁 |
| 文件大?。?/td> | 133K |
| 代理商： | SN74ABTH16823DGG |
SN54ABTH16823, SN74ABTH16823
18-BIT BUS-INTERFACE FLIP-FLOPS
WITH 3-STATE OUTPUTS
SCBS664B – APRIL 1996 – REVISED MAY 1997
8
POST OFFICE BOX 655303
DALLAS, TEXAS 75265
PARAMETER MEASUREMENT INFORMATION
1.5 V
th
tsu
From Output
Under Test
CL = 50 pF
(see Note A)
LOAD CIRCUIT
S1
7 V
Open
GND
500
500
Data Input
Timing Input
1.5 V
3 V
0 V
1.5 V
1.5 V
3 V
0 V
3 V
0 V
1.5 V
tw
Input
VOLTAGE WAVEFORMS
SETUP AND HOLD TIMES
VOLTAGE WAVEFORMS
PROPAGATION DELAY TIMES
INVERTING AND NONINVERTING OUTPUTS
VOLTAGE WAVEFORMS
PULSE DURATION
tPLH
tPHL
tPHL
tPLH
VOH
VOH
VOL
VOL
1.5 V
1.5 V
3 V
0 V
1.5 V
1.5 V
Input
1.5 V
Output
Control
Output
Waveform 1
S1 at 7 V
(see Note B)
Output
Waveform 2
S1 at Open
(see Note B)
VOL
VOH
tPZL
tPZH
tPLZ
tPHZ
1.5 V
1.5 V
3.5 V
0 V
1.5 V
VOL + 0.3 V
1.5 V
VOH – 0.3 V
≈
0 V
3 V
VOLTAGE WAVEFORMS
ENABLE AND DISABLE TIMES
LOW- AND HIGH-LEVEL ENABLING
Output
Output
tPLH/tPHL
tPLZ/tPZL
tPHZ/tPZH
Open
7 V
Open
TEST
S1
NOTES: A. CL includes probe and jig capacitance.
B. Waveform 1 is for an output with internal conditions such that the output is low except when disabled by the output control.
Waveform 2 is for an output with internal conditions such that the output is high except when disabled by the output control.
C. All input pulses are supplied by generators having the following characteristics: PRR
≤
10 MHz, ZO = 50
, tr
≤
2.5 ns, tf
≤
2.5 ns.
D. The outputs are measured one at a time with one transition per measurement.
1.5 V
Figure 1. Load Circuit and Voltage Waveforms
相關PDF資料 |
PDF描述 |
|---|---|
| SN74ABTH16823DL | 18-BIT BUS-INTERFACE FLIP-FLOPS WITH 3-STATE OUTPUTS |
| SN54ABTH16823 | 18-Bit Bus-Interface Flip-Flops(18位總線接口觸發(fā)器(三態(tài)輸出)) |
| SN54ABTH182504A | Scan Test Devices With 20 Bit Universal Bus Transceivers(掃描檢測裝置，帶20位通用總線收發(fā)器) |
| SN54ABTH18504A | Scan Test Devices With 20 Bit Universal Bus Transceivers(掃描檢測裝置，帶20位通用總線收發(fā)器) |
| SN54ABTH182646AHV | SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS |
相關代理商/技術參數 |
參數描述 |
|---|---|
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| SN74ABTH16823DL | 功能描述:觸發(fā)器 18-Bit Bus-Interface F-F W/3-State Otpt RoHS:否 制造商:Texas Instruments 電路數量:2 邏輯系列:SN74 邏輯類型:D-Type Flip-Flop 極性:Inverting, Non-Inverting 輸入類型:CMOS 輸出類型: 傳播延遲時間:4.4 ns 高電平輸出電流:- 16 mA 低電平輸出電流:16 mA 電源電壓-最大:5.5 V 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:X2SON-8 封裝:Reel |
| SN74ABTH16823DLG4 | 功能描述:觸發(fā)器 18-Bit Bus-Interface F-F W/3-State Otpt RoHS:否 制造商:Texas Instruments 電路數量:2 邏輯系列:SN74 邏輯類型:D-Type Flip-Flop 極性:Inverting, Non-Inverting 輸入類型:CMOS 輸出類型: 傳播延遲時間:4.4 ns 高電平輸出電流:- 16 mA 低電平輸出電流:16 mA 電源電壓-最大:5.5 V 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:X2SON-8 封裝:Reel |
| SN74ABTH16823DLR | 功能描述:觸發(fā)器 18-Bit Bus-Interface F-F W/3-State Otpt RoHS:否 制造商:Texas Instruments 電路數量:2 邏輯系列:SN74 邏輯類型:D-Type Flip-Flop 極性:Inverting, Non-Inverting 輸入類型:CMOS 輸出類型: 傳播延遲時間:4.4 ns 高電平輸出電流:- 16 mA 低電平輸出電流:16 mA 電源電壓-最大:5.5 V 最大工作溫度:+ 85 C 安裝風格:SMD/SMT 封裝 / 箱體:X2SON-8 封裝:Reel |
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