參數(shù)資料
型號： TSC83251G2D-24CED
廠商： Atmel Corp.
英文描述： B/16-BIT MICROCONTROLLER WITH SERIAL COMMUNICATION INTERFACES
中文描述： B/16-BIT微控制器串行通信接口
文件頁數(shù)： 19/28頁
文件大?。?/td> 153K
代理商： TSC83251G2D-24CED
Qualpack TSC87251G2D
Rev. 0 – October 1999
19
3.3.3 Z94 Wafer Process Qualification Results
This section summarizes the cumulated reliability data of 0.5um microcontrollers EPROM technology.
Lots
Device Type
Test Description
Step
Result
Comment
Z27314A
Z27748
TSC87251G2D EFR Dynamic Life Test
LFR Life Test
12h
24h
500h
4/3772
0/360
1/150
Poly bridging, Interlayer oxide
defect, functional not identified,
metal 2 photo etch bridging
Z28233C
TSC87C51RB2 EFR Dynamic Life Test
LFR Life Test
12h
24h
500h
1000h
1/1663
0/323
0/100
0/97
Functional not identified
Z28090B
Z28987
Z29142
Z29311D
Z29568B
Z28303C
TSC87C51RC2 EFR Dynamic Life Test
LFR Life Test
12h
24h
500h
1000h
8/11533
0/1284
0/500
0/500
Poly particle
Contact misalignment
Capacitor oxide defects
TSC87C51RD2 EFR Dynamic Life Test
LFR Life Test
12h
24h
500h
1000h
2/953
0/324
0/100
0/100
Poly particle
Z28430A
TSC87C52X2
EFR Dynamic Life Test
LFR Life Test
12h
24h
500h
1000h
2/2333
0/297
0/100
0/100
Functional not identified
Global
All products
EFR Dynamic Life Test
Commercial / Industrial
Automotive (1)
12h
24h
168h
17/20254
0/2588
0/950
839 ppm
(705 ppm / 10mm2)
0ppm
LFR Life Test
500h
1000h
1/950
0/797
14.2 fit
(11.6 fit / 10mm2)
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