參數資料
| 型號： | X9319WS8IT1 |
| 廠商： | Intersil |
| 文件頁數： | 5/10頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC DIGITAL POT 10K 100TAP 8-SOIC |
| 標準包裝： | 2,500 |
| 系列： | XDCP™ |
| 接片： | 100 |
| 電阻（歐姆）： | 10k |
| 電路數： | 1 |
| 溫度系數： | 標準值 ±300 ppm/°C |
| 存儲器類型： | 非易失 |
| 接口： | 3 線串行（芯片選擇，遞增，增/減） |
| 電源電壓： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作溫度： | -40°C ~ 85°C |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 封裝/外殼： | 8-SOIC（0.154"，3.90mm 寬） |
| 供應商設備封裝： | 8-SOIC |
| 包裝： | 帶卷 (TR) |
4
FN8185.2
September 26, 2006
ENDURANCE AND DATA RETENTION
(VCC = 5V ±10%, TA = Full Operating Temperature Range)
Notes: (1) Absolute linearity is utilized to determine actual wiper voltage versus expected voltage = [V(RW(n)(actual)) - V(RW(n)(expected))]/MI
V(RW(n)(expected)) = n(V(RH) - V(RL))/99 + V(RL), with n from 0 to 99.
(2) Relative linearity is a measure of the error in step size between taps = [V(RW(n+1)) - (V(RW(n)) - MI)]/MI
(3) 1 Ml = Minimum Increment = [V(RH) - V(RL)]/99.
(4) Typical values are for TA = 25C and nominal supply voltage.
(5) Guaranteed by device characterization.
(6) Ratiometric temperature coefficient = (V(RW)T1(n) - V(RW)T2(n))/[V(RW)T1(n)(T1 - T2) x 106], with T1 & T2 being 2 temperatures,
and n from 0 to 99.
(7) Measured with wiper at tap position 31, RL grounded, using test circuit.
A.C. CONDITIONS OF TEST
Parameter
Min.
Unit
Minimum endurance
100,000
Data changes per bit
Data retention
100
Years
Input pulse levels
0.8V to 2.0V
Input rise and fall times
10ns
Input reference levels
1.4V
Test Circuit
Equivalent Circuit
Force
Current
Test Point
RW
CH
CL
RW
10pF
RTOTAL
CW
25pF
RH
RL
X9319
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PDF描述 |
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| X9319WS8ZT1 | 功能描述:IC XDCP 100-TAP 10K 8-SOIC RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 數據采集 - 數字電位器 系列:XDCP™ 產品培訓模塊:Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program 標準包裝:2,500 系列:- 接片:256 電阻（歐姆）:100k 電路數:2 溫度系數:標準值 35 ppm/°C 存儲器類型:易失 接口:6 線串行（芯片選擇，遞增，增/減） 電源電壓:2.6 V ~ 5.5 V 工作溫度:-40°C ~ 125°C 安裝類型:表面貼裝 封裝/外殼:14-TSSOP（0.173"，4.40mm 寬） 供應商設備封裝:14-TSSOP 包裝:帶卷 (TR) |
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