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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | AD5172EVAL1 |
| 廠商： | Analog Devices, Inc. |
| 元件分類： | 通用總線功能 |
| 英文描述： | Dual, 256-Tap, Nonvolatile, I2C-Interface, Digital Potentiometers |
| 中文描述： | 雙路、256抽頭、非易失、I2C接口、數(shù)字電位器 |
| 文件頁數(shù)： | 11/24頁 |
| 文件大?。?/td> | 948K |
| 代理商： | AD5172EVAL1 |
AD5172/AD5173
TEST CIRCUITS
Figure 27 to Figure 34 illustrate the test circuits that define the
test conditions used in the product specification tables.
Rev. A | Page 11 of 24
0
V
MS
A
W
B
DUT
V+
V+ = V
1LSB = V+/2
N
Figure 27. Test Circuit for Potentiometer Divider Nonlinearity Error (INL, DNL)
0
NO CONNECT
I
W
V
MS
A
W
B
DUT
Figure 28. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation; R-INL, R-DNL)
0
V
MS1
I
W
= V
DD
/R
NOMINAL
V
MS2
V
W
R
W
= [V
MS1
– V
MS2
]/I
W
A
W
B
DUT
Figure 29. Test Circuit for Wiper Resistance
0
V
MS
%
DD
%
PSS (%/%) =
V+ = V
DD
PSRR (dB) = 20 LOG
10%
DUT
MS
( )
V
DD
V
A
V
MS
A
W
B
V+
V
Figure 30. Test Circuit for Power Supply Sensitivity (PSS, PSSR)
0
+15V
–15V
W
A
2.5V
B
V
OUT
OFFSET
GND
DUT
AD8610
V
IN
Figure 31. Test Circuit for Gain vs. Frequency
0
W
B
DUT
I
SW
CODE = 0x00
R
SW
=
0.1V
I
SW
0.1V
GND TO V
DD
Figure 32. Test Circuit for Incremental On Resistance
0
V
DD
A
W
B
DUT
GND
I
CM
V
CM
NC
NC
Figure 33. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current
0
V
IN
N/C
W1
B1
B2
W2
RDAC1
A1
RDAC2
V
DD
V
SS
V
OUT
CTA = 20 log[V
OUT
/V
IN
]
A2
Figure 34. Test Circuit for Analog Crosstalk
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