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參數(shù)資料
| 型號： | AFS1500-1FGG676 |
| 廠商： | Microsemi SoC |
| 文件頁數(shù)： | 28/334頁 |
| 文件大?。?/td> | 0K |
| 描述： | IC FPGA 8MB FLASH 1.5M 676-FBGA |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 40 |
| 系列： | Fusion® |
| RAM 位總計： | 276480 |
| 輸入/輸出數(shù)： | 252 |
| 門數(shù)： | 1500000 |
| 電源電壓： | 1.425 V ~ 1.575 V |
| 安裝類型： | 表面貼裝 |
| 工作溫度： | 0°C ~ 85°C |
| 封裝/外殼： | 676-BGA |
| 供應(yīng)商設(shè)備封裝： | 676-FBGA（27x27） |
第1頁第2頁第3頁第4頁第5頁第6頁第7頁第8頁第9頁第10頁第11頁第12頁第13頁第14頁第15頁第16頁第17頁第18頁第19頁第20頁第21頁第22頁第23頁第24頁第25頁第26頁第27頁當(dāng)前第28頁第29頁第30頁第31頁第32頁第33頁第34頁第35頁第36頁第37頁第38頁第39頁第40頁第41頁第42頁第43頁第44頁第45頁第46頁第47頁第48頁第49頁第50頁第51頁第52頁第53頁第54頁第55頁第56頁第57頁第58頁第59頁第60頁第61頁第62頁第63頁第64頁第65頁第66頁第67頁第68頁第69頁第70頁第71頁第72頁第73頁第74頁第75頁第76頁第77頁第78頁第79頁第80頁第81頁第82頁第83頁第84頁第85頁第86頁第87頁第88頁第89頁第90頁第91頁第92頁第93頁第94頁第95頁第96頁第97頁第98頁第99頁第100頁第101頁第102頁第103頁第104頁第105頁第106頁第107頁第108頁第109頁第110頁第111頁第112頁第113頁第114頁第115頁第116頁第117頁第118頁第119頁第120頁第121頁第122頁第123頁第124頁第125頁第126頁第127頁第128頁第129頁第130頁第131頁第132頁第133頁第134頁第135頁第136頁第137頁第138頁第139頁第140頁第141頁第142頁第143頁第144頁第145頁第146頁第147頁第148頁第149頁第150頁第151頁第152頁第153頁第154頁第155頁第156頁第157頁第158頁第159頁第160頁第161頁第162頁第163頁第164頁第165頁第166頁第167頁第168頁第169頁第170頁第171頁第172頁第173頁第174頁第175頁第176頁第177頁第178頁第179頁第180頁第181頁第182頁第183頁第184頁第185頁第186頁第187頁第188頁第189頁第190頁第191頁第192頁第193頁第194頁第195頁第196頁第197頁第198頁第199頁第200頁第201頁第202頁第203頁第204頁第205頁第206頁第207頁第208頁第209頁第210頁第211頁第212頁第213頁第214頁第215頁第216頁第217頁第218頁第219頁第220頁第221頁第222頁第223頁第224頁第225頁第226頁第227頁第228頁第229頁第230頁第231頁第232頁第233頁第234頁第235頁第236頁第237頁第238頁第239頁第240頁第241頁第242頁第243頁第244頁第245頁第246頁第247頁第248頁第249頁第250頁第251頁第252頁第253頁第254頁第255頁第256頁第257頁第258頁第259頁第260頁第261頁第262頁第263頁第264頁第265頁第266頁第267頁第268頁第269頁第270頁第271頁第272頁第273頁第274頁第275頁第276頁第277頁第278頁第279頁第280頁第281頁第282頁第283頁第284頁第285頁第286頁第287頁第288頁第289頁第290頁第291頁第292頁第293頁第294頁第295頁第296頁第297頁第298頁第299頁第300頁第301頁第302頁第303頁第304頁第305頁第306頁第307頁第308頁第309頁第310頁第311頁第312頁第313頁第314頁第315頁第316頁第317頁第318頁第319頁第320頁第321頁第322頁第323頁第324頁第325頁第326頁第327頁第328頁第329頁第330頁第331頁第332頁第333頁第334頁
Fusion Family of Mixed Signal FPGAs
Revision 4
2-107
TUE – Total Unadjusted Error
TUE is a comprehensive specification that includes linearity errors, gain error, and offset error. It is the
worst-case deviation from the ideal device performance. TUE is a static specification (Figure 2-87).
ADC Operation
Once the ADC has powered up and been released from reset, ADCRESET, the ADC will initiate a
calibration routine designed to provide optimal ADC performance. The Fusion ADC offers a robust
calibration scheme to reduce integrated offset and linearity errors. The offset and linearity errors of the
main capacitor array are compensated for with an 8-bit calibration capacitor array. The offset/linearity
error calibration is carried out in two ways. First, a power-up calibration is carried out when the ADC
comes out of reset. This is initiated by the CALIBRATE output of the Analog Block macro and is a fixed
number of ADC_CLK cycles (3,840 cycles), as shown in Figure 2-89 on page 2-114. In this mode, the
linearity and offset errors of the capacitors are calibrated.
To further compensate for drift and temperature-dependent effects, every conversion is followed by post-
calibration of either the offset or a bit of the main capacitor array. The post-calibration ensures that, over
time and with temperature, the ADC remains consistent.
After both calibration and the setting of the appropriate configurations, as explained above, the ADC is
ready for operation. Setting the ADCSTART signal high for one clock period will initiate the sample and
conversion of the analog signal on the channel as configured by CHNUMBER[4:0]. The status signals
SAMPLE and BUSY will show when the ADC is sampling and converting (Figure 2-91 on page 2-115).
Both SAMPLE and BUSY will initially go high. After the ADC has sampled and held the analog signal,
SAMPLE will go low. After the entire operation has completed and the analog signal is converted, BUSY
will go low and DATAVALID will go high. This indicates that the digital result is available on the
RESULT[11:0] pins.
DATAVALID will remain high until a subsequent ADC_START is issued. The DATAVALID goes low on the
rising edge of SYSCLK as shown in Figure 2-90 on page 2-114. The RESULT signals will be kept
constant until the ADC finishes the subsequent sample. The next sampled RESULT will be available
when DATAVALID goes high again. It is ideal to read the RESULT when DATAVALID is '1'. The RESULT
is latched and remains unchanged until the next DATAVLAID rising edge.
Figure 2-87 Total Unadjusted Error (TUE)
ADC
Output
Code
Input Voltage to Prescaler
IDEAL OUTPUT
TUE = ±0.5 LSB
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參數(shù)描述 |
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| AFS1500-1FGG676I | 功能描述:IC FPGA 8MB FLASH 1.5M 676-FBGA RoHS:是 類別:集成電路 (IC) >> 嵌入式 - FPGA（現(xiàn)場可編程門陣列） 系列:Fusion® 標(biāo)準(zhǔn)包裝:1 系列:ProASICPLUS LAB/CLB數(shù):- 邏輯元件/單元數(shù):- RAM 位總計:129024 輸入/輸出數(shù):248 門數(shù):600000 電源電壓:2.3 V ~ 2.7 V 安裝類型:表面貼裝 工作溫度:- 封裝/外殼:352-BFCQFP，帶拉桿 供應(yīng)商設(shè)備封裝:352-CQFP（75x75） |
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| AFS1500-1PQ256PP | 制造商:ACTEL 制造商全稱:Actel Corporation 功能描述:Actel Fusion Mixed-Signal FPGAs |
| AFS1500-1PQG256ES | 制造商:ACTEL 制造商全稱:Actel Corporation 功能描述:Actel Fusion Mixed-Signal FPGAs |
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