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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | DC1190A-E |
| 廠商： | Linear Technology |
| 文件頁數(shù)： | 3/20頁 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | BOARD SAR ADC LTC2360 |
| 軟件下載： | QuikEval System |
| 設(shè)計(jì)資源： | DC1190A Design Files DC1190A Schematic |
| 標(biāo)準(zhǔn)包裝： | 1 |
| 系列： | QuikEval™ |
| ADC 的數(shù)量： | 1 |
| 位數(shù)： | 12 |
| 采樣率（每秒）： | 100k |
| 數(shù)據(jù)接口： | MICROWIRE?，串行，SPI? |
| 已用 IC / 零件： | LTC2360 |
| 已供物品： | 板 |
| 相關(guān)產(chǎn)品： | LTC2360HTS8#TRPBF-ND - IC ADC SERIAL 12BIT TSOT23-8 LTC2360ITS8#TRPBF-ND - IC ADC 12BIT 100KSPS TSOT23-8 LTC2360ITS8#TRMPBFTR-ND - IC ADC 12BIT 100KSPS TSOT23-8 LTC2360IS6#TRPBF-ND - IC ADC 12BIT 100KSPS TSOT23-6 LTC2360IS6#TRMPBFTR-ND - IC ADC 12BIT 100KSPS TSOT23-6 LTC2360HTS8#TRMPBFTR-ND - IC ADC 12BIT 100KSPS TSOT23-8 LTC2360HS6#TRPBF-ND - IC ADC 12BIT 100KSPS TSOT23-6 LTC2360HS6#TRMPBFTR-ND - IC ADC 12BIT 100KSPS TSOT23-6 LTC2360CTS8#TRPBF-ND - IC ADC 12BIT 100KSPS TSOT23-8 LTC2360CTS8#TRMPBF-ND - IC ADC 12BIT 100KSPS TSOT23-8 更多... |
LTC2360/LTC2361/LTC2362
11
236012fa
APPLICATIONS INFORMATION
DC PERFORMANCE
The noise of an ADC can be evaluated in two ways: sig-
nal-to-noise ratio (SNR) in the frequency domain and
histogram in the time domain. The LTC2360/LTC2361/
LTC2362 excel in both. Figure 5 demonstrates that the
LTC2360/LTC2361/LTC2362 have an SNR of over 73dB.
The noise in the time domain histogram is the transition
noise associated with a 12-bit resolution ADC which can
be measured with a xed DC signal applied to the input of
the ADC. The resulting output codes are collected over a
large number of conversions. The shape of the distribu-
tion of codes will give an indication of the magnitude of
the transition noise. In Figure 4, the distribution of output
codes is shown for a DC input that has been digitized
16384 times. The distribution is Gaussian and the RMS
code transition is about 0.32LSB. This corresponds to a
noise level of 73dB relative to a full scale of 3V.
DYNAMIC PERFORMANCE
The LTC2360/LTC2361/LTC2362 have excellent high speed
sampling capability. Fast fourier transform (FFT) test
techniques are used to test the ADCs’ frequency response,
distortion and noise at the rated throughput. By applying
a low distortion sine wave and analyzing the digital output
using an FFT algorithm, the ADCs’ spectral content can
be examined for frequencies outside the fundamental.
Figures 5 and 6 show typical LTC2361 and LTC2362 FFT
plots respectively.
Figure 4. Histogram for 16384 Conversions
Figure 5. LTC2361 FFT Plot
Figure 6. LTC2362 FFT Plot
INPUT FREQUENCY (kHz)
0
MAGNITUDE
(dB)
0
–20
–60
–100
–40
–80
–120
–140
50
100
236012 F05
125
25
75
VDD = 3V
fSMPL = 250ksps
fIN = 124kHz
SINAD = 73dB
THD = –84dB
INPUT FREQUENCY (kHz)
0
MAGNITUDE
(dB)
0
–20
–60
–100
–40
–80
–120
–140
100
200
236012 F06
250
50
150
VDD = 3V
fSMPL = 500ksps
fIN = 248kHz
SINAD = 73dB
THD = –81dB
CODE
COUNT
10000
8000
4000
6000
2000
0
2047
2045
2049
236012 F04
2050
2046
2048
VDD = 3V
相關(guān)PDF資料 |
PDF描述 |
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