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參數(shù)資料
| 型號(hào)： | HD4074889 |
| 廠商： | Hitachi,Ltd. |
| 英文描述： | Low-Voltage AS Microcomputers with On-Chip LCD Circuit(片上LCD電路的低壓微計(jì)算機(jī)) |
| 中文描述： | 低電壓如同在微機(jī)芯片LCD電路（片上液晶顯示器電路的低壓微計(jì)算機(jī)） |
| 文件頁數(shù)： | 162/200頁 |
| 文件大小： | 633K |
| 代理商： | HD4074889 |
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HD404889/HD404899/HD404878/HD404868 Series
162
PROM Reliability after Programming:
In general, semiconductor devices retain their reliability,
provided that some initial defects can be excluded. These initial defects can be detected and rejected by
screening. Baking devices under high-temperature conditions is one method of screening that can rapidly
eliminate data-hold defects in memory cells. (Refer to the previous Principles of Programming/Erasure
section.)
ZTAT microcomputer devices are extremely reliable because they have been subjected to such a
screening method during the wafer fabrication process, but Hitachi recommends that each device be
exposed to 150
°
C at one atmosphere for at least 48 hours after it is programmed, to ensure its best
performance. The recommended screening procedure is shown in figure 99.
Note:
If programming errors occur continuously during PROM programming, suspend programming and
check for problems in the PROM programmer or socket adapter. If programming verification
indicates errors in programming or after high-temperature exposure, please inform Hitachi.
Note: Exposure time is measured from when the temperature in the heater reaches 150
°
C.
Programming, verification
Exposure to high temperature, without power
150
°
C
±
10
°
C, 48 h
+8 h
0 h
–
*
Program read check
V = 4.5 V or 5.5 V
Figure 99 Recommended Screening Procedure
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