參數(shù)資料
型號: HD4074889
廠商: Hitachi,Ltd.
英文描述: Low-Voltage AS Microcomputers with On-Chip LCD Circuit(片上LCD電路的低壓微計(jì)算機(jī))
中文描述: 低電壓如同在微機(jī)芯片LCD電路(片上液晶顯示器電路的低壓微計(jì)算機(jī))
文件頁數(shù): 60/200頁
文件大小: 633K
代理商: HD4074889
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HD404889/HD404899/HD404878/HD404868 Series
60
Usage notes:
In watch mode and subactive mode, an interrupt will not be detected correctly if the
INT
0
or
WU
0
to
WU
3
high or low-level period is shorter than the interrupt frame period.
The MCU’s edge sensing method is shown in figure 20. The MCU samples the
I NT
0
and
WU
0
to
WU
3
signals at regular intervals, and if consecutive sampled values change from high to low, it determines that a
falling edge has been generated.
Interrupt detection errors occur since this sampling is performed at the interrupt frame period. If the high-
level period of the
INT
0
or
WU
0
to
WU
3
signal is within an interrupt frame, as shown in figure 21 (a), the
signal will be low at point A and point B, with the result that the falling edge will not be recognized.
Similarly, If the low-level period of the
INT
0
or
WU
0
to
WU
3
signal is within an interrupt frame, as shown
in figure 21 (b), the signal will be high at point A and point B, with the result that the falling edge will not
be recognized.
In watch mode and subactive mode, therefore, ensure that the high-level and low-level periods of the
INT
0
and
WU
0
to
WU
3
signals is at least as long as the interrupt frame period.
INT
0
or
WU
0
to
WU
3
Sampling
High
Low
Low
Figure 20 Edge Sensing Method
INT
0
or
WU
0
to
WU
3
Interrupt frame
Point A: Low
Point B: Low
INT
0
or
WU
0
to
WU
3
Interrupt frame
Point A: High
Point B: High
(a) High-level mode
(b) Low-level mode
Figure 21 Sampling Examples
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