參數(shù)資料
型號： ISL54061EVAL1Z
廠商： Intersil
文件頁數(shù)： 14/15頁
文件大?。?/td> 0K
描述： EVALUATION BOARD FOR ISL54061
標準包裝： 1
主要目的： 接口，模擬開關(guān)
嵌入式： 否
已用 IC / 零件： ISL54061
主要屬性： 2 x SPST 模擬開關(guān)
次要屬性： 1.8 V ~ 6.5 V 電源
已供物品： 板
8
FN6580.2
November 3, 2009
Test Circuits and Waveforms
Logic input waveform is inverted for switches that have the opposite
logic sense.
FIGURE 1A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 1B. TEST CIRCUIT
FIGURE 1. SWITCHING TIMES
FIGURE 2A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 2B. TEST CIRCUIT
FIGURE 2. CHARGE INJECTION
FIGURE 3. OFF-ISOLATION TEST CIRCUIT
FIGURE 4. rON TEST CIRCUIT
50%
tr < 5ns
tf < 5ns
tOFF
90%
V+
0V
VNO
0V
tON
LOGIC
INPUT
SWITCH
INPUT
SWITCH
OUTPUT
90%
VOUT
V
OUT
V
(NO or NC)
R
L
R
L
r
ON
+
------------------------
=
SWITCH
INPUT
LOGIC
INPUT
VOUT
RL
CL
COM
NO OR NC
IN
50
Ω
35pF
GND
V+
C
VOUT
ΔVOUT
ON
OFF
ON
Q =
ΔVOUT x CL
SWITCH
OUTPUT
LOGIC
INPUT
V+
0V
CL
VOUT
RG
VG
GND
COM
NO OR NC
V+
C
LOGIC
INPUT
IN
Repeat test for all switches.
ANALYZER
RL
SIGNAL
GENERATOR
V+
C
0V OR V+
NO OR NC
COM
IN
GND
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches.
*50
Ω SOURCE
V+
C
0V OR V+
NO OR NC
COM
IN
GND
VNX
V1
rON = V1/100mA
100mA
Repeat test for all switches.
ISL54060, ISL54061
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PDF描述
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